基于LabVIEW的电学参数自动计量检定系统设计

发布时间：2017-09-08 08:44

  本文关键词：基于LabVIEW的电学参数自动计量检定系统设计

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【摘要】：电学计量是十大计量之一。电学计量涉及种类多、范围广,而且许多非电量的测量都要转化为对电信号的测量。而随着工业的发展对电信号测量的精度要求越来越高,为保障其测量结果准确可靠,必须对其测量仪器进行定时检定/校准,因此电学参量的计量检定/校准显示出相当重要的基础地位。本文研究电学参数自动计量检定/校准主要可以方便快捷的完成电学检定/校准任务,减少检定/校准工作量,同时也可以减小人为操作误差。 虚拟仪器(Virtual Instrument)是近十几年来新兴起的仪器系统,其借助迅速发展的计算机硬件、软件以及仪器总线技术,逐渐向其他技术领域密集渗透,并与仪器控制技术、测试测量技术相结合。它把计算机作为仪器统一的硬件平台,借助总线技术进行仪器控制,可以很好地完成测量和控制任务。本系统是一种基于LabVIEW软件的虚拟仪器系统,它充分利用计算机的运算速度以及计算机智能资源,大大提高了检定/校准的效率。同时将仪器的面板控件功能和仪器专业功能实现软件化,在计算机上进行软件编程,可以通过增加、调整软件模块和控制装置实现新的检定/校准功能,轻松进行检定/校准功能扩展,从而大大降低仪器开发成本,节省计量工作成本。本文的主要研究工作及成果如下： (1)用RS232串口以及GPIB并口分别对仪器进行通信控制,了解两种通信的异同,选择GPIB并口进行仪器控制； (2)利用LabVIEW先实现对一种多功能数字表即Keithley2000自动计量检定,再扩展对Keithley、Fluke以及国内外等一系列多功能数字表进行计量检定／校准； (3)利用LabVIEW的模块化功能实现对其他一些非电量用表(压力变送器)可以转换成电量进行检定／校准的仪表实现自动计量检定／校准； (4)利用LabVIEW数据处理与报表生成工具,设计实现检定／校准报表的自动生成、保存及打印。本文研究基于LabVIEW的多功能数字表与压力变送器的自动计量检定／校准,使电学参数的计量检定／校准更加方便快捷,并减小了手动计量中的人为误差,为虚拟仪器在电学参量自动计量检定／校准的研究做了初步实验探索。
【关键词】：虚拟仪器 LabVIEW 计量检定 电学参数
【学位授予单位】：山西大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2013
【分类号】：TM933
【目录】：

• 中文摘要8-10
• ABSTRACT10-12
• 第一章 绪论12-17
• 1.1 课题研究的目的和意义12
• 1.2 国内外研究现状12-15
• 1.2.1 电学计量检定研究现状12-14
• 1.2.2 基于虚拟仪器的计量检定研究现状14-15
• 1.3 论文研究的内容与结构15-17
• 第二章 基于虚拟仪器的自动计量检定系统17-27
• 2.1 虚拟仪器简介17-20
• 2.1.1 虚拟仪器与LabVIEW17-18
• 2.1.2 LabVIEW在计量检定中的优势18-20
• 2.2 计量检定系统设计20-22
• 2.2.1 设计思路20-21
• 2.2.2 计量检定系统组成21
• 2.2.3 设计框架21-22
• 2.3 数据采集22-23
• 2.4 仪器通信与控制23-26
• 2.4.1 仪器控制23
• 2.4.2 串口通信与RS-232通信23-25
• 2.4.3 并口与GPIB通信25-26
• 2.4.4 仪器控制实现26
• 2.5 本章小结26-27
• 第三章 基于LabVIEW多功能数字表自动计量检定27-38
• 3.1 多功能数字表检定原理27
• 3.1.1 多功能数字表27
• 3.1.2 多功能数字表计量检定/校准27
• 3.2 软件编程27-34
• 3.2.1 设计方案27-28
• 3.2.2 程序流程28-29
• 3.2.3 编程实现29-34
• 3.3 实验结果与分析34-37
• 3.4 本章小结37-38
• 第四章 压力变送器自动计量检定系统38-45
• 4.1 压力变送器检定原理38-39
• 4.1.1 压力变送器及工作原理38
• 4.1.2 压力变送器计量检定原理38-39
• 4.1.3 压力变送器电学数据特征39
• 4.2 软件编程39-42
• 4.2.1 设计方案39
• 4.2.2 程序流程39-40
• 4.2.3 编程实现40-42
• 4.3 实验结果与分析42-44
• 4.4 本章小结44-45
• 第五章 总结与展望45-47
• 参考文献47-50
• 攻读学位期间取得的研究成果50-51
• 致谢51-52
• 个人简况及联系方式52-54

【参考文献】

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1 应怀樵;卡泰仪器与虚拟仪器技术的现状与发展趋势[J];国外电子测量技术;2000年02期

2 李t，

本文编号：813039