ICP-OES法测定氧化铟锡粉末中微量元素

发布时间：2018-05-23 21:33

  本文选题：电感耦合等离子体发射光谱 + 氧化铟锡　； 参考：《中国材料进展》2017年04期

【摘要】：氧化铟锡(ITO)粉体中的微量杂质元素对其薄膜制品的透光率等光谱特性影响较大。用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)同时测定ITO粉体中Sn,Fe,Cu,Pb,Zn,Ca,Mg共7种微量元素。样品置于银坩埚中用氢氧化钠铺底和覆盖,高温碱法熔融,用热水和稀盐酸浸取并转移至溶液中;选择合适谱线消除了元素之间的谱线干扰、配制混合标准溶液时采用基体匹配法消除了基体干扰;对每种元素的精密度、检出线和加标回收率进行了研究,试验结果表明,每种元素的精密度均不大于1.2%,加标回收率在98~104%之间,样品测试结果与标准值一致。
[Abstract]:Trace impurity elements in indium tin oxide (ITO) powders have great influence on the transmittance and other spectral properties of the films. Inductively coupled plasma emission spectrometry (ICP-OES) was used to determine seven trace elements in ITO powders. The sample is placed in a silver crucible and covered with sodium hydroxide, melted by alkali method at high temperature, soaked with hot water and dilute hydrochloric acid, and transferred to the solution. The matrix interference was eliminated by matrix matching method when mixed standard solution was prepared. The precision, detection line and recovery rate of each element were studied. The precision of each element is not greater than 1.2%, the recovery of the added standard is between 98 and 104%, and the test results are in agreement with the standard value.
【作者单位】： 中国兵器工业集团第五三研究所;
【基金】：国防科技工业局计量项目(J092011A001)
【分类号】：O657.31;TB383.3

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本文编号：1926454