FPD气相色谱法测定液晶材料中微量有机膦杂质
本文选题:液晶材料 + 有机膦杂质 ; 参考:《液晶与显示》2017年05期
【摘要】:建立了一种液晶材料中微量有机膦杂质的FPD气相色谱分析测试方法,可以同时测试液晶材料中微量三苯基氧膦和三苯基膦杂质。方法重现性好,结果相对标准偏差(RSD,n=5)分别为4.4%和5.6%,有机膦杂质的添加回收率为80%~110%。实验对于液晶材料工业化过程中膦成分的分析方法建立具有较好的指导意义。
[Abstract]:A method for the determination of trace organic phosphine impurities in liquid crystal materials by FPD gas chromatography was established. The trace triphenyl phosphine oxide and triphenyl phosphine impurities in liquid crystal materials can be determined simultaneously. The reproducibility of the method was good. The relative standard deviation (RSD) was 4.4% and 5.6%, respectively. The recovery of organic phosphine impurity was 80% and 110%, respectively. The experiment is of great significance for the determination of phosphine composition in the industrial process of liquid crystal materials.
【作者单位】: 阜阳欣奕华材料科技有限公司;
【分类号】:O657.71;TB302.2
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,本文编号:1962760
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