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高强高导Cu-Nb微观复合材料的界面结构

发布时间:2018-11-17 21:27
【摘要】:通过集束拉拔技术获得了高强度高电导Cu-Nb微观复合材料,采用SEM及EDS观察分析了4次复合过程中内部Nb芯丝和Cu层的微观形貌变化,Cu/Nb界面的互扩散行为;对不同复合条件下的挤压、拉拔样品,通过XRD测试,表征了芯丝和基体的晶体取向的演变规律;通过HRTEM和反傅里叶变换研究了Cu/Nb的界面结构和晶体学位向关系。研究表明,在极塑性变形条件下,Cu/Nb界面在3次复合出现明显扩散,Cu、Nb逐渐形成丝织构取向,界面存在典型的(111)_(Cu)//(110)_(Nb)取向关系,晶面夹角为18.7°,每6个(111)Cu晶面出现1个晶面错配。
[Abstract]:The high strength and high conductance Cu-Nb microcomposites were obtained by cluster drawing technique. The microstructure changes of Nb core wire and Cu layer and the interdiffusion behavior of Cu/Nb interface were observed and analyzed by SEM and EDS. The evolution of crystal orientation of core wire and matrix was characterized by XRD test for extruded and drawn samples under different compounding conditions, and the interface structure and crystal orientation of Cu/Nb were studied by HRTEM and inverse Fourier transform. The results show that under the condition of extreme plastic deformation, the Cu/Nb interface diffuses obviously in three times, the Cu,Nb gradually forms the texture orientation of the silk, and the interface has a typical orientation relationship of (111) _ (Cu) / (110) _ (Nb). The angle of crystal plane is 18.7 掳, and one mismatch occurs in every 6 (111) Cu faces.
【作者单位】: 西北有色金属研究院;
【基金】:国家自然科学基金(51031002)
【分类号】:TB331

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本文编号:2339089

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