柔性CuS透明导电薄膜的制备及性能研究
【图文】:
Tab. 2-2 Instruments and equipmen型号 CRESBOX 日UV-2550 日DELTA320 梅特勒D/MAX-2500 德Nanosem 430S-4800日—— 法,分别在酸性、碱性环境示:
天津大学硕士学位论文并计算网格内物质的剥落率,得出薄膜附着力等级[68,69]。2.4.6 抗挠曲性测试为了研究弯曲操作对 CuS 薄膜性能的影响,采用如图 2-2(a)所示的薄膜弯曲测试装置对样品的导电性进行测试。装置由距离调节单元、带有电极的薄膜夹具和电阻测试单元 3 个部分组成。在测试开始前,将样品固定在薄膜夹具两侧的电极上,,测量时调节两个相对电极之间的距离,薄膜样品的曲率半径随之改变通过显示器上的数据就可以获得不同曲率半径下导电膜电阻值。图 2-2(b)为薄膜弯曲过程的示意图。测试从薄膜未弯曲时开始,通过移动电极位置逐步减小薄膜的曲率半径,可以获得薄膜在弯曲过程中膜层电阻的变化值。
【学位授予单位】:天津大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2018
【分类号】:TB383.2;O614.121
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