低电压STEM-EELS在纳米催化剂结构表征中的应用

发布时间：2020-12-23 12:50

　　低电压球差校正扫描透射电子显微学和电子能量损失谱（STEM-EELS）由于能够有效地避免撞击位移损伤（knock-on damage）和提高电子束与样品的非弹性散射截面,从而在低维纳米催化剂的结构表征方面具有广阔的应用前景。作者以最近在CrNi氧化物和Ni-N-C单原子催化剂上的工作为例,展示利用低电压STEM-EELS表征不同元素不同化合价态在空间上的分布以及在单原子敏感度下进行化学键合的分析。这些基于低加速电压下的STEM-EELS结果为理解纳米催化剂的构效关系提供了更全面的认识以及为材料设计提供了进一步指导。 

【文章来源】：电子显微学报. 2020年05期 北大核心

【文章页数】：7 页

【部分图文】：

常规背底扣除后积分的方法处理CrNN的STEM-EELS结果。

利用MLLS拟合法对CrNN中的EELS信号进行处理。

Ni-N-C催化剂的STEM-EELS表征。

【参考文献】：
期刊论文
[1]石墨烯的低电压扫描透射电子显微学成像研究[J]. 周武.  电子显微学报. 2018(05)



本文编号：2933747