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氮氩气流量比对磁控溅射氮化钛薄膜微观结构的影响

发布时间:2021-01-02 21:53
  采用扫描电镜(SEM)和X射线衍射仪(XRD)研究了氮气流量(5、10、25、50 sccm)及氮氩气流量比(4∶1、3∶2、2∶3、1∶4)对磁控溅射TiN薄膜微观形貌和相组成的影响。结果显示,所得样品具有纳米级TiN薄膜的基本特征。当N2与Ar的总流量为5 sccm,而它们的流量比为4∶1时,可以制得品质较好的蓝紫色TiN薄膜。 

【文章来源】:电镀与涂饰. 2020年07期 北大核心

【文章页数】:5 页

【部分图文】:

氮氩气流量比对磁控溅射氮化钛薄膜微观结构的影响


不同N2流量下制备的TiN薄膜的微观形貌

微观形貌,微观形貌,薄膜,晶粒


将N2与Ar的总流量固定为5 sccm进行不同氮氩气流量比的试验。由图2a可知,N2/Ar流量比为4∶1时,晶粒呈长条状,尺寸为20~60 nm,紧密堆积,薄膜表面平整。与图1a对比,图2a中晶粒更加圆润,这是由于通入的Ar气体被电离成Ar+,导致轰击Ti靶的粒子数目增多,靶的溅射能力增强,从而令晶粒生长得更圆润;图2a中晶粒表面更加平整则是晶粒中的团簇也在不断融合的结果,但是从中也可以看出未完全融合的晶粒的形状,它们呈扭曲的长条状。由图2b可知,N2/Ar流量比为3∶2时,晶粒尺寸为15~60 nm,晶粒呈拼图状,晶粒之间紧密堆积,晶粒表面平整。与图2a对比,图2b中晶粒间的融合现象更普遍,但是仍能看出晶粒融合之前的形状。随着Ar流量上升到3 sccm,晶粒之间融合的现象更加明显(见图2c),晶粒尺寸为20~60 nm,晶粒呈柠檬形,较完整,大小不均匀,表面平整,晶粒之间堆积松散。由图2d可知,当N2/Ar流量比为1∶4时,晶粒尺寸为10~40 nm,晶粒形状不规则,大小也不均匀,表面不平整。在通入较少Ar气体的情况下,Ar的导电性比N2好,Ar+粒子可以轰击靶材,从而产生大量的原料形成薄膜。由于晶粒生长更倾向于从棱角开始,因此通入少量Ar气体时晶粒为拼图状。当通入Ar流量增大到3 sccm时,晶粒变成了柠檬状,当Ar流量达到4 sccm时,晶粒尺寸甚至减小到了15 nm的程度。这是因为溅射出来的粒子具有的能量没有变化,但反应气体中N2过少,晶粒生长缺少原料,导致晶粒的生长受到影响。

工艺条件,薄膜,流量,表面能


如图3所示,在2θ为36.9°和42.9°两处分别出现了TiN的(111)和(200)衍射峰;在2θ为37.6°和48.2°两处分别出现了TiO2的(004)和(200)衍射峰;在2θ为39.2°处出现了Ti的(002)衍射峰。(111)晶面是TiN晶体的最小应变能晶面,(200)为其最小表面能晶面,TiN薄膜的结晶取向取决于最小应变能和最小表面能的竞争[13]。Ti化学性质活泼,容易与空气中的氧气反应形成一层致密的TiO2薄膜,因此XRD谱图中出现了TiO2的衍射峰。观察图3中的a和b谱线可知,随着N2流量的增加,TiN的(200)衍射峰略有升高,TiN的(111)衍射峰增高明显,半高宽逐渐增加。这说明适量增大N2流量,成膜原料增加,TiN晶粒将沿着表面能最低的(200)面生长。随着N2流量的继续增加,TiN(111)衍射峰呈降低的趋势。在a、b、c、d四条谱线中,Ti的(002)衍射峰高度逐渐降低,看似说明了增加N2流量可在一定程度上促进TiN的生成。但是在d谱线中没有出现TiN的特征峰,只有TiO2的(004)衍射峰。这可能是因为N2流量过大会影响靶材的电离程度,甚至影响了Ti原子和N原子的结合,只制得了Ti薄膜,最后在空气中被氧化。

【参考文献】:
期刊论文
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[6]等离子体增强磁控溅射离子镀TiN涂层的研究[J]. 王玉魁,韩会民,高路斯,廖勇泉.  真空. 1996(01)
[7]离子镀TiN色泽与工艺关系的研究[J]. 付少华,吕广庶.  新技术新工艺. 1995(03)

硕士论文
[1]多弧离子镀制备装饰TiN薄膜及其颜色和性能的研究[D]. 杨怡帆.华南理工大学 2012



本文编号:2953712

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