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黄铜基底上制备铜/锌复合氧化物薄膜及光电化学性能的研究

发布时间:2021-02-12 11:51
  金属氧化物作为半导体材料被广泛应用于光电催化领域。CuO和Cu20都是p型半导体,CuO的禁带宽度为1.2eV,Cu2O的禁带宽度为1.9~2.2eV,都吸收可见光,能作为可见光光催化材料。ZnO是一种n型半导体材料,禁带宽度为3.37 eV。CuO/ZnO或Cu20/ZnO复合薄膜都显示出良好的光催化/光电化学性能。黄铜的主要成分是Cu和Zn,可以在其表面形成CuO、Cu2O和ZnO等氧化物,在制备复合金属氧化物半导体方面具有很大的优势。本论文研究了通过草酸腐蚀在黄铜基底上制备铜/锌复合氧化物薄膜的过程,考察了腐蚀条件对薄膜光电性能的影响规律。利用扫描电子显微镜(SEM)、X射线粉末衍射仪(XRD)、激光拉曼光谱仪(Raman)、透射电子显微镜(TEM)和X射线光电子能谱(XPS)等对薄膜的形貌、结构和组成进行了表征,在0.1 mol·L--溶液中通过光电流-时间曲线的方法测试了样品的光电化学性能。主要研究内容和结果如下:1、酸种类的影响。经浓度为10%的磷酸(1.6mol·L-1)、乙酸(1.7 moL·L-1)和草酸(1.1 mol·L-1)腐蚀处理黄铜片表面,在60 ℃的烘箱中... 

【文章来源】:浙江师范大学浙江省

【文章页数】:71 页

【学位级别】:硕士

【部分图文】:

黄铜基底上制备铜/锌复合氧化物薄膜及光电化学性能的研究


光电化学电池原理示意图

酸腐蚀,黄铜,酸类型,基底


滴酸;(b)鱗酸;(c)乙酸:(d)草酸??3.2.3?XRD结构分析??图3.3所示是在60°C下,经浓度为10%的三种不同类型的磷酸、乙酸和草??酸腐蚀制备的样品的XRD图谱,其中图3.3(a)为未经任何处理的黄铜基底的??XRD图谱。所有样品都在20为42.3°、49.2°、72.2°、87.4°和92.4°处出现五个强??峰,这五个强峰分别对应于基底a-黄铜相(111)、(200)、(220)、(311)和(222)晶面??18??

酸腐蚀,氧化膜,黄铜,基底


后更有利于光电化学性能的提高。??3.2.4表面Raman分析??图3.4所示为60?°C下,浓度为10%的三种不同类型的酸制备的样品的Raman??图谱。未滴加酸直接锻烧和经磷酸腐蚀后形成的氧化膜在93、107、148、218、??635和650?cm—1处都出现了?Raman散射峰,而经乙酸腐蚀后的氧化膜除了在93、??107、148?和?218?cm_1?处出现?Raman?散射峰,在?306、357、420?和?635?cirf1?处也??出现了?Raman散射峰。经草酸腐蚀制备的样品薄膜在291、341、603、621和1108??cnf1处出现Raman散射峰,与其它样品的出峰位置有很大差异,表明酸种类对??样品表面的Raman散射峰有很大的影响。根据文献,我们将93、420和621?cm_1??,??Cu2〇?VCuO??ZnO??立?M一?L??tn??200?400?600?800?1000?1200?1400??Raman?shift?(cm*1)??Figure?3.4?Raman?pattern?of?oxide?films?on?the?brass?grown?in?various?types?of?acid?(10%,?60?°C):??(a)?heating;?(b)?acetic?acid;?(c)?phosphoric?acid;?(d)?oxalic?acid??图3.4黄铜基底被不同种类酸腐蚀形成的氧化膜的XRD图谱:酸类型(10%,?60?°C):?(a)未??滴酸;(b)乙酸;(c)磷酸;(d)草酸??处的?Raman?散射峰归于?ZnO[79’8°]

【参考文献】:
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本文编号:3030822

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