一种压电半导体纳米线的热电耦合性能研究

发布时间：2021-03-23 19:39

　　采用有限元分析方法,研究了一种n型压电半导体纳米线（氧化锌）的电热耦合性能,分析了外部温度对氧化锌纳米线内部机械场、电场及电流场分布的影响,并讨论了本构方程线性化对电学参数的影响。研究结果表明,温度对氧化锌纳米线的电场、载流子浓度和电流密度影响很大,采用线性本构和非线性本构求得的电场、电子浓度和电流密度最大相差分别为24%,32%和68%,基于非线性本构分析压电半导体的电学性能会引起很大误差。该研究结果可为压电半导体器件利用温度调控电场、电流提供理论依据。 

【文章来源】：半导体光电. 2020,41(03)北大核心

【文章页数】：6 页

【部分图文】：

压电半导体纳米线示意图

图2 位移沿纳米线的分布

电势沿纳米线的分布

【参考文献】：
期刊论文
[1]压电半导体杆中的机械场、电场与载流子分布研究（英文）[J]. Chun-li ZHANG,Xiao-yuan WANG,Wei-qiu CHEN,Jia-shi YANG.  Journal of Zhejiang University-Science A（Applied Physics & Engineering）. 2016(01)
[2]Piezotronics and piezo-phototronics: fundamentals and applications[J]. ZhongLin Wang,Wenzhuo Wu.  National Science Review. 2014(01)



本文编号：3096317