应变对面心立方结构孪晶纳米线变形机制影响的原位原子尺度研究

发布时间：2021-05-10 12:08

　　本文利用原位实验技术,在透射电镜中实现了对直径约为40 nm的孪晶结构Ni纳米线（D=～40 nm）的弯曲变形实验,并对其塑性变形机制进行了原位原子尺度研究。原位原子尺度研究表明,弯曲应变对孪晶结构Ni纳米线的塑性行为有显著影响。在弯曲变形的初始阶段,塑性变形受位错行为控制,并且孪晶厚度对位错类型和滑移系具有重要影响。随着弯曲应变的增加,纳米线中观察到了连续的晶格畸变以及面心立方-体心四方的相转变。当弯曲应变继续增加超过～30%时,塑性变形方式由晶格畸变/塌陷引起的晶界形核主导。本实验提供了孪晶结构Ni纳米线在大塑性变形下的塑性变形图像,对理解不同的弯曲应变对孪晶结构Ni纳米线变形机制的影响具有借鉴意义。 

【文章来源】：电子显微学报. 2020,39(05)北大核心CSCD

【文章页数】：11 页

【文章目录】：
1 实验
2 结果与讨论
    2.1 孪晶结构Ni 纳米线的TEM表征
    2.2 孪晶结构Ni纳米线弯曲过程的原位TEM观察
    2.3 低应变阶段的位错行为
    2.4 可逆面心立方-体心四方相变的原位原子尺度研究
    2.5 晶界形成的原位原子尺度研究
    2.6 讨论
3 结论


【参考文献】：
期刊论文
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本文编号：3179341