压延法制备PTFE/TiO 2 片材的厚度均匀性优化
发布时间:2023-03-03 18:55
采用统计过程控制(SPC)方法对压延过程进行管控,寻找控制点,开展DOE试验。确定最优压延工艺:压延方向为旋转法,辊间隙调节方法为分段微调,循环2次。对小批量片材压延的过程能力进行分析,过程能力指数为1.13,说明改善后的压延工艺稳定可靠。以最优的压延工艺制备聚四氟乙烯/二氧化钛(PTFE/TiO2)复合片材并制得介质基板,微观形貌显示TiO2陶瓷粉在基体中均匀分散,10 GHz下介电常数为9.97 F/m,介质损耗为0.002 1,在400 mm×400 mm内测试100点厚度为(0.715±0.020) mm,厚度均匀性得到了优化。
【文章页数】:4 页
【文章目录】:
1 试验部分
1.1 主要原料及仪器设备
1.2 试验过程
1.3 性能测试与表征
2 结果与讨论
2.1 SPC方法对现有工艺的厚度均匀性进行分析
2.2 SPC方法对压延过程进行管控和工艺优化
2.3 SPC方法对小批量基片厚度的过程能力分析
2.4 PTFE/TiO2的形貌和介电性能分析
3 结论
本文编号:3752924
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1 试验部分
1.1 主要原料及仪器设备
1.2 试验过程
1.3 性能测试与表征
2 结果与讨论
2.1 SPC方法对现有工艺的厚度均匀性进行分析
2.2 SPC方法对压延过程进行管控和工艺优化
2.3 SPC方法对小批量基片厚度的过程能力分析
2.4 PTFE/TiO2的形貌和介电性能分析
3 结论
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