当前位置:主页 > 科技论文 > 材料论文 >

压延法制备PTFE/TiO 2 片材的厚度均匀性优化

发布时间:2023-03-03 18:55
  采用统计过程控制(SPC)方法对压延过程进行管控,寻找控制点,开展DOE试验。确定最优压延工艺:压延方向为旋转法,辊间隙调节方法为分段微调,循环2次。对小批量片材压延的过程能力进行分析,过程能力指数为1.13,说明改善后的压延工艺稳定可靠。以最优的压延工艺制备聚四氟乙烯/二氧化钛(PTFE/TiO2)复合片材并制得介质基板,微观形貌显示TiO2陶瓷粉在基体中均匀分散,10 GHz下介电常数为9.97 F/m,介质损耗为0.002 1,在400 mm×400 mm内测试100点厚度为(0.715±0.020) mm,厚度均匀性得到了优化。

【文章页数】:4 页

【文章目录】:
1 试验部分
    1.1 主要原料及仪器设备
    1.2 试验过程
    1.3 性能测试与表征
2 结果与讨论
    2.1 SPC方法对现有工艺的厚度均匀性进行分析
    2.2 SPC方法对压延过程进行管控和工艺优化
    2.3 SPC方法对小批量基片厚度的过程能力分析
    2.4 PTFE/TiO2的形貌和介电性能分析
3 结论



本文编号:3752924

资料下载
论文发表

本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/cailiaohuaxuelunwen/3752924.html


Copyright(c)文论论文网All Rights Reserved | 网站地图 |

版权申明:资料由用户f9c86***提供,本站仅收录摘要或目录,作者需要删除请E-mail邮箱bigeng88@qq.com