扫描电镜纳米颗粒粒径自动检测算法

发布时间：2023-04-02 04:16

　　基于数学几何学,提出一种扫描电镜纳米颗粒粒径自动检测方法,该方法利用电镜颗粒图像的粒径分布及形状信息,采用长短轴比值和区域面积2种不同参数对颗粒是否团簇或残缺进行判断,实现筛选单个的完整颗粒,并使用MATLAB对不同粒径参数的颗粒宽边缘形状进行提取,运用最小二乘法求出颗粒粒径的像素值,经转化后得到真实值,从而实现了微纳米颗粒粒径的自动检测。试验选取聚苯乙烯纳米颗粒对方法进行验证,结果表明:对于团簇残缺较少的图像,采用长短轴比值和面积2种参数进行筛选均能准确有效提取单点颗粒,但团簇残缺颗粒较多时,采用长短轴比值效果更加准确,且计算颗粒粒径与实际值吻合良好。

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【文章目录】：
1 引言
2 试验步骤
    2.1 试验样品与制样
    2.2 SEM图像观测
3 粒径提取算法
    3.1 长短轴法
    3.2 标准偏差法
    3.3 2种方法的对比
    3.4 颗粒粒径计算
5 结论



本文编号：3778516