当前位置:主页 > 科技论文 > 材料论文 >

亚胺化工艺对PI/纳米Al 2 O 3 三层复合薄膜结构与性能的影响

发布时间:2023-04-22 01:36
  聚酰亚胺(PI)薄膜由于其优异的电气绝缘性能广泛应用于电机绝缘、微电子及航空航天等领域。随着科学技术的不断发展,电气技术向高压和超高压化、微电子技术向小型化,以及变频节能等技术的发展,传统的聚酰亚胺薄膜很难达到要求,这就促使聚酰亚胺薄膜向高性能及功能化方向发展。本文以均苯四甲酸二酐(PMDA)和4,4’-二氨基二苯醚(ODA)为合成单体,以N,N-二甲基乙酰胺(DMAc)为溶剂,以气相Al2O3作为掺杂相,制备了一系列掺杂量不同的PI/纳米Al2O3三层复合薄膜,并对制得的复合薄膜进行了耐电晕性能和电击穿性能测试,测试结果显示:当气相Al2O3掺杂量为12 wt%时,各种工艺对应的复合薄膜的耐电晕性能和电击穿性能最好,即12 wt%为最佳掺杂量。在确定了最佳掺杂量的基础上设计了十种不同的亚胺化工艺,并制备了一系列第一、二层亚胺化工艺不同的复合薄膜。对三层复合薄膜的第一层进行了红外光谱测试,并计算了不同亚胺化工艺对应的复合薄膜的第一层的亚胺化率,结果显示:红...

【文章页数】:51 页

【学位级别】:硕士

【文章目录】:
摘要
Abstract
第1章 绪论
    1.1 研究目的与意义
    1.2 聚酰亚胺概述
    1.3 聚酰亚胺复合薄膜
        1.3.1 聚酰亚胺复合薄膜的分类
        1.3.2 聚酰亚胺复合薄膜制备方法
    1.4 聚酰亚胺/无机纳米复合薄膜研究现状
        1.4.1 无机纳米粒子对PI薄膜的改性
        1.4.2 聚酰亚胺制备工艺的改进
    1.5 课题来源及研究内容
        1.5.1 课题来源
        1.5.2 课题研究内容
第2章 实验部分
    2.1 实验原料及设备
        2.1.1 实验原料
        2.1.2 实验设备
    2.2 PI/纳米Al2O3三层复合薄膜的制备
        2.2.1 聚酰胺酸(PAA)胶液的制备
        2.2.2 铺膜及亚胺化过程
    2.3 测试与表征
        2.3.1 红外光谱表征
        2.3.2 扫描电子显微镜表征
        2.3.3 击穿场强测试
        2.3.4 耐电晕性能测试
        2.3.5 电导电流测试
    2.4 本章小结
第3章 结果与讨论
    3.1 亚胺化率的计算
    3.2 Al2O3最佳掺杂量的确定
        3.2.1 纳米Al2O3掺杂量对PI薄膜击穿场强的影响
        3.2.2 纳米Al2O3掺杂量对PI薄膜耐电晕性能的影响
    3.3 亚胺化率对PI/Al2O3三层复合薄膜结构的影响
    3.4 亚胺化率对PI/Al2O3三层复合薄膜击穿场强的影响
    3.5 亚胺化率对PI/Al2O3三层复合薄膜耐电晕性能的影响
        3.5.1 亚胺化率对PI/Al2O3三层复合薄膜耐电晕时间的影响
        3.5.2 电晕处理后的复合薄膜的表面形貌分析
    3.6 亚胺化率对PI薄膜电导电流特性的影响
        3.6.1 常温下PI薄膜的电导电流特性分析
        3.6.2 变温条件下PI薄膜的电导电流特性分析
    3.7 本章小结
结论
参考文献
攻读硕士学位期间发表的学术论文
致谢



本文编号:3796653

资料下载
论文发表

本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/cailiaohuaxuelunwen/3796653.html


Copyright(c)文论论文网All Rights Reserved | 网站地图 |

版权申明:资料由用户8673b***提供,本站仅收录摘要或目录,作者需要删除请E-mail邮箱bigeng88@qq.com