钛酸钡在Si基板上的制备及其作为MOS和磁电耦合单元应用的探索
【文章页数】:130 页
【学位级别】:硕士
【部分图文】:
图3.1溅射时长为100min时沉积态非晶BTO薄膜厚度与溅射位置的关系
第三章BTO薄膜在Si基板上的沉积与非晶网络结构的形成33第三章BTO薄膜在Si基板上的沉积与非晶网络结构的形成3.1引言对于BTO薄膜在Si基板上的沉积及其应用,在BTO/Si界面处形成强且可控的内建电场十分关键。由于掺杂会使晶态氧化物的本征特性发生改变,并且引入的载流子浓度有....
图3.2BTO薄膜的溅射模式
这些电场线一方面将加速工作气体中的Ar+离子使之轰击靶材发生溅射,另一方面将加速靶材表面的这些O2-离子使之轰击基板,发生反溅射现象。因此,基板上的物质将被这些O2-离子刻蚀,使得靶材正下方难以沉积上薄膜,当反溅射现象严重时还会使得基板被刻蚀。一般情况下,反溅射效应在靶材正下方最....
图4.18溅射时长分别为(a),(d),(g)10min、(b),(e),(h)40min和(c),(f),(i)100min的BTO薄膜在(a)c420°C,(d)f460°C,(g)i600°C保温2h的SEM照片
浙江大学硕士学位论文76图4.17溅射时长为10min和100min的BTO薄膜的(a)O1s和Ti2p的结合能差和(b)Ti2p光电子峰的半高宽与退火温度的关系Fig.4.17(a)ThebindingenergydifferenceofO1sandTi2pand(b)theF....
图6.21000°C保温1h后2BTO-8NZFO薄膜的SEM照片,(a)i分别对应
浙江大学硕士学位论文92氧离子会往基板加速,从而对薄膜乃至基板进行轰击,造成刻蚀。而对于BTO-NZFO复相靶材,由于BTO相的存在,反溅射效应也应该存在,但显然应该与纯的BTO靶材不同。因此,我们需要先对复相BTO-NZFO材料的反溅射效应进行研究。图6.1为2BTO-8NZF....
本文编号:3944957
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