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硼镓共掺杂氧化锌薄膜的制备及性能研究

发布时间:2017-06-30 04:11

  本文关键词:硼镓共掺杂氧化锌薄膜的制备及性能研究,由笔耕文化传播整理发布。


【摘要】:氧化锌(ZnO)作为一种直接宽禁带(3.37eV)II-VI族化合物半导体材料,具有优异的光、电性能。相对氮化稼(GaN)、氧化铟锡(ITO)和二氧化锡(SnO2)等材料,ZnO具有原材料丰富、价格低廉、无毒、沉积温度较低及稳定性好等优点,从而在平板显示器件、发光器件、薄膜太阳能电池、表面声波器件、气敏传感器和探测器等领域得到了广泛的应用。通过硼(B)、镓(Ga)、铝(Al)或铟(In)等单元素掺杂可以制备出性能较好的ZnO透明导电薄膜(TCO)。近年来,人们探索通过多元素共掺杂的方法进一步提高ZnO TCO薄膜的综合性能。本论文主要开展了硼镓共掺杂ZnO(BGZO)薄膜的制备工艺及性能研究。具体研究内容如下:本文采用射频磁控溅射法(RF MS)法制备BGZO薄膜。通过SEM、AFM、XRD、霍尔测试及紫外-可见-红外分光光度计等方法研究了沉积工艺参数(沉积功率、衬底温度、薄膜厚度等)对BGZO薄膜形貌、结构(取向、晶粒尺寸、应力等)、电学(载流子浓度、迁移率、电阻率等)和光学性能(透过率、禁带宽度等)的影响规律。研究表明:(1)在不同的溅射功率、薄膜厚度及衬底温度下,所制备的薄膜均为六角纤锌矿结构,表现出高度的c轴择优取向;在可见光波段的平均透过率均在85%以上。(2)溅射功率为150W的条件下沉积的薄膜具有较高的迁移率和较低的电阻率;当溅射功率高于150W时,薄膜的晶粒尺寸减小,电阻率增大;载流子浓度和光学禁带宽度随着溅射功率的增大而增加。(3)薄膜的厚度也会影响薄膜的性能,随膜厚增加,薄膜结晶质量提高,电阻率下降、迁移率增加并趋于稳定;随着膜厚的增加,薄膜的晶粒尺寸增大,薄膜的带隙宽度(Eg)减小。(4)衬底温度为200℃时,制备的薄膜具有较大的微晶尺寸,较低的电阻率,较高的霍尔迁移率和光学禁带宽度。
【关键词】:氧化锌 磁控溅射法 硼镓共掺杂 禁带宽度
【学位授予单位】:上海大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2016
【分类号】:TB383.2
【目录】:
  • 摘要6-7
  • ABSTRACT7-11
  • 第一章 绪论11-24
  • 1.1 引言11-12
  • 1.2 ZnO的基本性质12-17
  • 1.2.1 ZnO的晶体学结构12-13
  • 1.2.2 ZnO的能带结构13-15
  • 1.2.3 ZnO的热力学性质15-16
  • 1.2.4 ZnO的光学性质16-17
  • 1.2.5 ZnO的电学性质17
  • 1.3 ZnO的应用17-21
  • 1.3.1 压电器件17-18
  • 1.3.2 气敏器件18-19
  • 1.3.3 光电器件19-20
  • 1.3.4 透明电极20
  • 1.3.5 闪烁体薄膜应用20-21
  • 1.4 ZnO基透明导电薄膜的研究进展21-22
  • 1.5 本课题意义和研究内容22-24
  • 第二章 ZnO薄膜的制备及表征方法24-38
  • 2.1 ZnO薄膜的制备方法24-28
  • 2.1.1 金属有机化学气相沉积(MOCVD)24
  • 2.1.2 分子束外延(MBE)24-25
  • 2.1.3 脉冲激光沉积(PLD)25-26
  • 2.1.4 磁控溅射26-28
  • 2.2 磁控溅射技术28-33
  • 2.2.1 溅射28-29
  • 2.2.2 辉光放电原理29-30
  • 2.2.3 磁控溅射原理30-32
  • 2.2.4 磁控溅射的特点32-33
  • 2.3 ZnO薄膜的性能表征33-38
  • 2.3.1 X射线衍射分析(XRD)33-34
  • 2.3.2 扫描电镜(SEM)34-36
  • 2.3.3 原子力显微镜(AFM)36
  • 2.3.4 霍尔测试系统36-37
  • 2.3.5 紫外-可见光分光光度计(UV-VIS)37-38
  • 第三章 溅射功率对BGZO薄膜的性能影响38-47
  • 3.1 实验设备38-39
  • 3.2 薄膜制备工艺39-41
  • 3.2.1 靶材39
  • 3.2.2 衬底及其清洗39-40
  • 3.2.3 薄膜制备过程40-41
  • 3.2.4 工艺参数41
  • 3.3 实验结果与讨论41-46
  • 3.3.1 对薄膜沉积速率的影响41-42
  • 3.3.2 对薄膜结构性能的影响42-43
  • 3.3.3 对薄膜表面形貌的影响43-44
  • 3.3.4 对薄膜电学性能的影响44-45
  • 3.3.5 对薄膜光学性能的影响45-46
  • 3.4 本章小结46-47
  • 第四章 薄膜厚度对BGZO薄膜性能的影响47-55
  • 4.1 薄膜制备工艺47-48
  • 4.1.1 靶材47
  • 4.1.2 衬底及其清洗47
  • 4.1.3 薄膜制备过程47-48
  • 4.1.4 工艺参数48
  • 4.2 结果与讨论48-54
  • 4.2.1 对薄膜结构性能的影响48-49
  • 4.2.2 对薄膜表面形貌的影响49-51
  • 4.2.3 对薄膜电学性能的影响51-52
  • 4.2.4 对薄膜光学性能的影响52-54
  • 4.3 本章小结54-55
  • 第五章 衬底温度对BGZO薄膜性能的影响55-65
  • 5.1 薄膜制备工艺55-56
  • 5.1.1 靶材55
  • 5.1.2 衬底及其清洗55
  • 5.1.3 薄膜制备过程55
  • 5.1.4 工艺参数55-56
  • 5.2 结果与讨论56-63
  • 5.2.1 对薄膜结构性能的影响56-59
  • 5.2.2 对薄膜表面形貌的影响59-60
  • 5.2.3 对薄膜电学性能的影响60-62
  • 5.2.4 对薄膜光学性能的影响62-63
  • 5.3 本章小结63-65
  • 第六章 结论与展望65-67
  • 6.1 结论65-66
  • 6.2 展望66-67
  • 参考文献67-76
  • 作者在攻读硕士学位期间公开发表的文章和专利76-77
  • 致谢77

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本文编号:500528

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