低介电常数聚酰亚胺基多孔复合材料的研究进展
本文关键词:低介电常数聚酰亚胺基多孔复合材料的研究进展
【摘要】:随着微电子工业的迅速发展,对层间绝缘材料提出了更高的要求。聚酰亚胺因其良好的热稳定性和较低的介电常数被广泛应用于大规模集成电路的层间绝缘材料。本文主要对低介电常数聚酰亚胺基复合材料的制备方法进行了综述,着重介绍了笼型倍半硅氧烷(POSS)、多孔SiO_2、蒙脱石、多金属氧酸盐(POMs)、石墨烯衍生物的引入在降低聚酰亚胺介电常数方面的应用,并对低介电常数聚酰亚胺的发展前景进行了展望。
【作者单位】: 大连理工大学建设工程学部;
【关键词】: 介电常数 聚酰亚胺 多孔 层间绝缘材料
【分类号】:TB33
【正文快照】: 1引言在集成电路工艺中,二氧化硅(SiO2)材料因其极好的热稳定性和低吸湿性一直是金属互联线路间使用的主要层间绝缘材料[1]。然而,随着超大规模集成电路(ULSI)的不断发展,要求芯片的尺寸越来越小,芯片中信号传输的延迟时间也相应增加,这种延迟时间与金属层间绝缘材料的介电常
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,本文编号:682660
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