当前位置:主页 > 科技论文 > 电子信息论文 >

5nm生产线的挑战

发布时间:2017-10-14 21:16

  本文关键词:5nm生产线的挑战


  更多相关文章: 集成电路制造 nm EUV光刻 finFET 纳米线FET


【摘要】:集成电路芯片的制造技术已经进入16/14nm时代,10nm甚至7nm时基本上可以使用现在同样的制造设备,似乎已无悬念。业界普遍认为5nm肯定是个坎,如果EUV光刻设备不能准备好,逼迫要采用五次图形曝光技术(FP)。另一方面,晶体管结构的创新和半导体材料的创新、互连技术与工艺控制技术都是5nm工艺将面临的关键点。
【作者单位】: 求是缘半导体联盟;
【关键词】集成电路制造 nm EUV光刻 finFET 纳米线FET
【分类号】:TN405
【正文快照】: 管的一面让栅包围的fin FET。Intel的纳米线FET有时被称作为环栅FET,并被国际工艺路线图ITRS定义可实现5nm的工艺技术。如果Intel不是走在前列,不可能提供它的5nm进展信息。它的报告似乎给出一个信号,5nm可能有希望实现,它拓展的工艺路线图中正在采用新的晶体管结构。显然在5n

本文编号:1033221

资料下载
论文发表

本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/1033221.html


Copyright(c)文论论文网All Rights Reserved | 网站地图 |

版权申明:资料由用户d4875***提供,本站仅收录摘要或目录,作者需要删除请E-mail邮箱bigeng88@qq.com