测试平台数据比对及相关问题分析

发布时间：2017-11-07 20:23

  本文关键词：测试平台数据比对及相关问题分析

  更多相关文章： J测试机 T测试机 比对 一致性 重复性 差异

【摘要】：在芯片产业链中,芯片测试环节是不可或缺的,是对芯片产品质量检验的重要手段之一。为了满足测试产能的需要,受各种因素影响,往往需要在不同测试平台进行产能扩展的活动,开发对应的测试程序。在芯片测试程序开发完成之后,需要对测试平台移植进行风险评估,也就是工程批实验,根据实验结果判断是否可以进行后续量产。通过对一款芯片在T2000和J750两种测试平台的测试数据进行分析,深入了解测试平台移植过程中,如何对开发结果进行评价,并在对测试数据进行详细比对和差异化问题分析过程中,从不同角度阐述测试数据的一致性和重复性问题。
【作者单位】： 北京确安科技股份有限公司;
【分类号】：TN407
【正文快照】： 1引言随着电子技术的不断革新,涉及的范围也在不断扩大。在芯片测试行业[1],同一款芯片测试在不同机台上面开发时有发生,往往在产能调配,或者产能激增的情况下发生,那么多种平台的测试结果比对就显得尤为重要。2平台介绍泰瑞达J750[2]测试机是集成电路测试设备历史上最常用的

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本文编号：1153972