热迁移作用下的无铅微焊点蠕变行为研究
发布时间:2017-11-19 16:06
本文关键词:热迁移作用下的无铅微焊点蠕变行为研究
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【摘要】:电子产品的密集化和小型化,导致封装互连焊点经受的电流密度越来越大,使得焊点两端产生高的温度梯度,从而引发焊点产生热迁移效应。再加上在互连焊点结构中基板、焊料以及封装材料,他们的热膨胀系数不同,因此会在服役过程中使焊点承受不同程度的随时间变化的热应力,导致典型的蠕变变形和破坏。热迁移效应和蠕变变形成为了电子封装互连的两种不同的失效模式。可见研究耦合热迁移作用的无铅微焊点的蠕变行为尤为重要。本文设计了耦合热迁移的蠕变实验平台与纯蠕变的实验平台,对Cu/Sn0.7Cu/Cu焊点在不同应力以及不同温度下的蠕变性能进行了研究,为互连焊点的可靠性提供了理论依据。首先研究了Cu/Sn0.7Cu/Cu焊点在剪切应力为1.78MPa、2.53MPa和3.62MPa,温度100T?℃和150T?℃条件下焊点蠕变性能的变化。研究表明温度的升高可以加速焊点的蠕变断裂;同时观察了焊点的断口形貌、断裂位置以及界面金属间化合物微观形貌演变,对焊点的蠕变指数n和蠕变激活能Q进行了求解,其结果显示焊点的蠕变机制是以位错滑移机制为主。其次研究了Cu/Sn0.7Cu/Cu焊点在温度梯度G=1046℃/cm条件下,先经历热迁移250h、500h、750h和1000h后,再在剪切应力为2.53MPa和3.62MPa,温度100T?℃的实验条件下进行蠕变。研究表明相比于纯蠕变,蠕变寿命降低,但是随着热迁移时间的增加,焊点的蠕变寿命则出现了先升高后降低的现象;当热迁移时间为250h、500h和1000h,Cu/Sn0.7Cu/Cu焊点的蠕变应力指数n在3-4之间,以位错滑移为主要变形机制;当热迁移时间为750h的时候,Cu/Sn0.7Cu/Cu焊点的蠕变应力指数n约等于2,以微孔聚集、晶界滑移为主要变形机制。再次,对Cu/Sn0.7Cu/Cu焊点在剪切应力为1.78MPa、2.53MPa和3.62MPa,同时耦合温度梯度G=1046℃/cm条件下,焊点的蠕变寿命、断口形貌、断裂位置以及界面金属间化合物微观形貌的演变进行了观察,对其蠕变指数n和蠕变激活能Q进行了求解,其结果显示随着剪切应力的降低,焊点的蠕变机制是由位错滑移为主转变为微孔聚集、晶界滑移机制为主。最后对在温度150T?℃条件下等温时效750h后,焊点在剪切应力为1.78MPa、2.53MPa和3.62MPa,同时耦合温度梯度G=1046℃/cm条件下进行了蠕变实验。研究表明,时效之后焊点更易断裂,这是由于等温时效750h后焊点的剪切强度降低。在剪切应力较大时(3.62MPa和2.53MPa),由于蠕变寿命很短,界面金属间化合物的形貌几乎没有变化,并且焊点的蠕变断裂位于焊点基质内;在剪切应力为1.78MPa下,焊点的断裂发生在热端界面金属间化合物处,从而使焊点由韧性断裂向韧-脆断裂转变。
【学位授予单位】:华南理工大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2016
【分类号】:TN05;TG44
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,本文编号:1204105
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