接触接近式光刻机微力找平技术
发布时间:2017-11-24 03:25
本文关键词:接触接近式光刻机微力找平技术
【摘要】:介绍了一种微力找平技术,该技术应用气缸及间隙找平机构,可满足厚胶光刻工艺要求。
【作者单位】: 中国电子科技集团公司第四十五研究所;
【分类号】:TN305.7
【正文快照】: 接触接近式光刻设备是半导体生产及实验制造中的关键设备之一。近年来随着厚胶工艺的应用日益广泛及对掩模版防损要求的提高,对光刻机的找平技术也提出了新的要求,即要求基片与掩模版找平时找平力尽量小且方便调整找平力的大小,并在找平过程中减少对掩模版的损伤,延长掩模版的
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1 林启敬;赵玉龙;蒋庄德;王鑫W,
本文编号:1220868
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