一种针对FPGA密码模块的非侵入式故障攻击（英文）

发布时间：2017-11-24 22:14

  本文关键词：一种针对FPGA密码模块的非侵入式故障攻击（英文）

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【摘要】：在FPGA平台上,利用降低电源电压的方法使电路关键路径上的数据建立失败,从而达到注入故障的目的。基于合适的故障模型,攻击者可以有效地获取密钥信息,实现了针对密码模块的高效率、低成本的非侵入式故障攻击方法。攻击实验利用一台电压源和一台个人电脑,通过8组正确和错误密文对,成功地恢复出一个FPGA中AES密码模块的128 bit完整密钥。
【作者单位】： 北京大学信息科学技术学院微电子学研究院;国民技术股份有限公司;
【基金】：国家自然科学基金(61306040) 北京市自然科学基金(4152020) 深圳市战略新兴产业发展专项资金创新环境建设计划(ZDSY20130402095348589)资助
【分类号】：TN918.4;TN791
【正文快照】： Nowadays FPGA has become a significant devicein finance,communication and military fields due toits flexibility and performance advantages.Since thedata security is one of the most important issues inthese sensitive fields,an increasing attention has bee

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本文编号：1223789