《电子与封装》2016年第16卷1~12期目次索引
发布时间:2017-12-04 19:33
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【摘要】:正~~
【正文快照】: 作者期(页)封装、组装与测试拉钩位置对引线拉力试验键合强度测试值影响分析凌勇,吕音一(1)引线框架塑料封装集成电路分层及改善周朝峰,周金成,李习周一(5)DFT类IC的多SITE高效测试研究孙恺凡一(9)基于ATE的可编程逻辑器件测试方法解维坤一(12)基于X射线成像的PBGA器件焊接质,
本文编号:1252135
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