泰克推出Keithley S540功率半导体测试系统

发布时间：2017-12-08 11:01

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【摘要】：正全自动高速晶圆级参数测试解决方案面向最新的功率半导体器件,包括高达3kV的SiC和GaN2016年10月27日,泰克科技公司日前推出Keithley S540功率半导体测试系统,这是为高达3kV的功率半导体器件和结构提供的一种全自动48针参数测试系统。全集成S540是为用于最新复合功率半导体材料而优化的,包括金刚砂(SiC)和氮化镓(GaN),可以在一个探头接入中执行所有高压测试、低压测试和电容测试。
【分类号】：TN307
【正文快照】： 全自动高速晶圆级参数测试解决方案面向最新的功率半导体器件,包括高达3kV的SiC和GaN　　2016年10月27日,泰克科技公司日前推出Keithley为提供生产级性能,S540可以在最多48针上执行参S540功率半导体测试系统,这是为高达3kV的功率半导数测量,而不用改变电缆或探头插件设施。它

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