猫眼回波图像随CMOS器件激光损伤变化的实验研究

发布时间：2017-12-09 12:08

  本文关键词：猫眼回波图像随CMOS器件激光损伤变化的实验研究

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【摘要】：成像系统中的CMOS探测器被激光损伤后,其猫眼回波会发生变化。对猫眼回波图像的变化进行了实验研究,发现随着用于损伤的激光功率增加,CMOS器件的微透镜发生分解,直至最终消失,并使器件表面形成由遮光铝膜和光敏区构成的二维光栅,猫眼回波图像内的阵列光斑也经历了逐步消失又恢复的过程。以高斯随机表面模拟微透镜表面形貌,建模计算了猫眼回波图像随微透镜损伤程度的变化,计算结果与实验现象相符。
【作者单位】： 脉冲功率激光技术国家重点实验室(电子工程学院);
【基金】：国家重点实验室基金(SKL2014ZR06)
【分类号】：TN249
【正文快照】： 1　引　　言光电成像系统广泛地应用于航空、航天、侦察与微光夜视等领域,然而其光电探测器又非常容易受到激光的干扰与损伤,严重影响其正常工作。因此,研究激光对探测器的辐照效应具有重要意义,相关领域的研究成果也非常丰富[1-8]。激光辐照探测器使微透镜、遮光铝膜和基底出

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本文编号：1270327