基于65nm工艺的多端口可配置PUF电路设计

发布时间：2017-12-16 19:15

  本文关键词：基于65nm工艺的多端口可配置PUF电路设计

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【摘要】：物理不可克隆函数(Physical Unclonable Function,PUF)电路利用结构完全相同的电路在制造过程中存在的随机工艺偏差,产生具有唯一性、随机性和不可克隆性的密钥。该文通过对共源共栅电流镜的研究,提出一种基于电流镜工艺偏差的多端口可配置PUF电路。该PUF电路由输入寄存器、偏差电压源、复用网络、判决器阵列和扰乱模块构成,通过激励信号配置偏差电压源,无需更换硬件便可实现输出密钥的变化,且可在一个时钟周期内输出多位密钥。在SMIC 65 nm CMOS工艺下,采用全定制方式设计具有36个输出端口的PUF电路,版图面积为24.8μm×77.4μm。实验结果表明,该PUF电路具有良好的唯一性和随机性,且工作在不同温度(-40~125°C)和电压(1.08~1.32 V)下的可靠性均大于97.4%,可应用于信息安全领域。
【作者单位】： 宁波大学电路与系统研究所;
【基金】：国家自然科学基金(61474068,61274132) 浙江省自然科学基金(LQ14F040001) 浙江省教育厅项目(Y201430798)~~
【分类号】：TN402
【正文快照】： 1引言随着计算机技术和集成电路技术的飞速发展,信息安全与隐私越来越受到人们关注。物理不可克隆函数(Physical Unclonable Function,PUF)电路[1,2],采用提取硬件纹理特性的方式,提供了一种增强信息安全的途径。这种技术最早由文献[3]提出,它是集成电路领域的“DNA特征识别技

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3 ;[J];;年期

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本文编号：1297148