一种标准单元库的自动仿真验证方法

发布时间：2018-01-10 07:34

  本文关键词：一种标准单元库的自动仿真验证方法　出处：《微电子学》2017年01期 　论文类型：期刊论文

  更多相关文章： 标准单元库 仿真验证 逻辑单元 测试向量

【摘要】：提出了一种针对标准单元库中单元逻辑功能进行自动仿真验证的方法,验证了55nm标准单元库中单元逻辑功能的正确性。该方法能自动提取设计文档中的单元逻辑,根据提取结果中输入端的数量自动生成测试向量,并以此测试向量生成参考逻辑值,整个过程只需0.708μs。采用仿真工具对标准单元库文件进行仿真,将得到的仿真值自动与参考值对比,验证了库单元逻辑的正确性,提高了标准单元库功能验证的效率。
[Abstract]:In this paper, a method for automatic simulation and verification of unit logic function in standard cell library is proposed. The correctness of unit logic function in 55nm standard cell library is verified. This method can automatically extract unit logic from design document and generate test vector automatically according to the number of input terminals in the result of extraction. The whole process only needs 0.708 渭 s. The simulation tool is used to simulate the standard cell library file, and the simulation value is automatically compared with the reference value. The correctness of library unit logic is verified and the efficiency of function verification of standard cell library is improved.
【作者单位】： 北京工业大学电子信息与控制工程学院;北达科他州立大学电子与计算机工程系;
【基金】：国家自然科学基金资助项目(61204040) 北京市教育委员会科技计划面上项目(JC002999201301) 北京市自然科学基金资助项目(4152004)
【分类号】：TN402
【正文快照】： 2.北达科他州立大学电子与计算机工程系,美国北达科他州法戈58102)0引言专用集成电路(Application Specific IntegratedCircuit,ASIC)是指为满足特定用户需求或特定电子系统需求而设计制造的集成电路[1,2]。它在构成电子系统时具有体积小、重量轻、功耗低、可靠性高和成本低等

【参考文献】

相关期刊论文 前2条

1 黄璐;王浩;;一款验证标准单元库功能与延迟测量的芯片[J];中国集成电路;2014年06期

2 卢俊;贾嵩;王源;张钢刚;;高性能的标准单元库设计[J];航空计算技术;2007年03期

【共引文献】

相关期刊论文 前3条

1 侯立刚;朱琳;赵未;智景松;彭晓宏;汪金辉;;一种标准单元库的自动仿真验证方法[J];微电子学;2017年01期

2 王仁平;陈群超;江浩;李凡阳;;数字集成电路课程设计改革与创新[J];高师理科学刊;2016年04期

3 李碧琛;沈海斌;郑丹丹;严晓浪;;基于可扩展标准单元的半定制电路设计方法[J];机电工程;2013年06期

【相似文献】

相关期刊论文 前10条

1 李云岗,侯朝焕;标准单元库的建立和参数提取[J];微计算机应用;1999年04期

2 薛庆华;张明;刘伟;;0.25μm宏单元库的验证[J];中国集成电路;2003年01期

3 朱海博;桑红石;李茜;李娅;;基于商用工艺的抗辐射标准单元库设计[J];微电子学与计算机;2013年06期

4 曾献君,叶以正,何煜;基于标准单元库的多级函数分解[J];微电子学;1993年01期

5 唐威;刘佑宝;吴龙胜;赵德益;卢红利;;空间辐射效应防护的标准单元库设计与实现[J];吉林大学学报(信息科学版);2010年04期

6 刘汝萍;朱余龙;;深亚微米标准单元库的设计与开发[J];中国集成电路;2003年06期

7 孟少鹏;马强;;基于TSMC55工艺的ELC流程[J];中国集成电路;2010年06期

8 黄璐;王浩;;一款验证标准单元库功能与延迟测量的芯片[J];中国集成电路;2014年06期

9 罗晓春,林争辉;面积优化再分解设计方法[J];电讯技术;2001年01期

10 吴迪;马亮;刘晓彦;;标准单元库版图缩放设计与实现[J];北京大学学报(自然科学版);2009年02期

相关硕士学位论文 前10条

1 向薛成;单轨电流模标准单元包设计[D];宁波大学;2015年

2 喻鑫;40nm标准单元库的移植与加固设计[D];国防科学技术大学;2014年

3 冉庆龙;功耗均衡单元库的设计与实现[D];国防科学技术大学;2014年

4 曹宏涛;高可靠性I/O标准单元库及其ESD防护设计[D];国防科学技术大学;2014年

5 刘金鑫;0.18μm抗辐射标准单元库的设计与实现[D];山东大学;2016年

6 丁杰;0.6V 40nm低电压标准单元库设计[D];东南大学;2016年

7 苏杭;TFET单元库设计技术研究[D];哈尔滨工业大学;2015年

8 何静博;基于40nm工艺的一种改进型I/O标准单元库及ESD设计[D];西安电子科技大学;2016年

9 翁文君;65纳米输入输出单元库研究和开发[D];复旦大学;2010年

10 吴乐顺;基于SMIC 0.18um EEPROM工艺的标准单元库设计[D];西安电子科技大学;2013年

，

本文编号：1404411