基于Multisim10 的电子电路可靠性研究

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基于Multisim 10的电子电路可靠性研究

雷 跃 谭永红

（柳州铁道职业技术学院 广西 柳州545007）

【摘要】利用Multisim 10平台进行电子电路设计的可靠性研究，可以有效地解决传统分析方法难以对电子电路设计进行容差精确分析的技术问题。方法为统计取样法，，其理论基础是概率论中的大数定理，基本原理是根据指定的分布规律在器件参数容差范围内随机地选取元器件及电路工作条件参数，再经大量计算，分析出电路性能的统计规律。通过实例，说明应用Multisim 10进行蒙特卡罗分析和最坏情况分析的方法和步骤，呈现出Multisim 10在电子电路设计的可靠性研究中出色的应用效果和广阔的应用前景。

【关键词】容差分析；仿真分析；可靠性

【收稿日期】2010-3-5

【作者简介】雷跃(1958-)，男，湖南长沙人，柳州铁道职业技术学院现代技术中心主任，高级实验师，主要从事电气自动化控制技术研究；谭永红(1959-)，女，广西桂林人，柳州铁道职业技术学院电子工程系高级实验师，主要从事应用电子技术研究。

【中图分类号】TN702 【文章标识码】 A

Reliability Research of Electronic Circuit Based on Multisim 10

Lei Yao Tan Yong-hong

(Liuzhou Railway Vocational Technical College，Liuzhou Guangxi 545007)

Abstract： using Multisim 10 platform to research the reliability of electronic circuit design can effectively solve accurate tolerance analysis of the electronic circuit design. This method called statistical sampling is based on Bernoulli Theorem in Probability Theory. According to the specified distribution rule, it selects the Electron Component and work condition parameters within the tolerance randomly, then by virtue of calculation, analyzes the statistical regularity of the circuit performance．Through examples，the methods and steps of the Monte Carlo analysis and the worst case analysis by Multisim 10 are illustrated, and the outstanding effect and broad prospect of Multisim 10 in the reliability consideration of electronic circuit design are presented.

Key words：tolerance analysis；simulation analysis； reliability 1 引言

对于高精度的复杂电子系统，其稳定性问题在系统可靠性中占有很重要的地位。由于制造工艺和使用条件等原因，任何电子产品都不可避免地会受到随机扰动因素的影响。例如实际电路中的元器件参数和其标称值之间的随机误差、使用时间的增加、环境条件的变化等，

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