当前位置:主页 > 科技论文 > 电子信息论文 >

基于RTD和HEMT的D触发器设计

发布时间:2018-01-25 17:39

  本文关键词: 共振隧穿二极管 高电子迁移率晶体管 单双稳态转换逻辑单元 D触发器 出处:《浙江大学学报(理学版)》2017年06期  论文类型:期刊论文


【摘要】:共振隧穿二极管(RTD)作为一种新的量子器件和纳米电子器件,具有负内阻、电路功耗低、工作频率高、双稳态和自锁等特性,可突破CMOS工艺尺寸的物理极限,在数字集成电路领域有更为广阔的发展空间.针对RTD的特性,采用3个RTD串联的单双稳态转换逻辑单元(MOBILE)和类SR锁存器,设计了基于RTD和HEMT(高电子迁移率晶体管)的D触发器.较于其他研究的D触发器,该D触发器能有效降低电路的器件数量和复杂度,且能抗S、R信号的延时差异干扰,具有更稳健的输出.
[Abstract]:As a new quantum device and nano-electronic device, the resonant tunneling diode (RTD) has the characteristics of negative internal resistance, low power consumption, high operating frequency, bistability and self-locking. It can break through the physical limit of CMOS process size, and has a broader development space in the field of digital integrated circuit, aiming at the characteristics of RTD. Three RTD series mono-bistable conversion logic units (MOBILE) and SR-like latch are used. A D-flip-flop based on RTD and HEMT (High Electron Mobility Transistor) is designed. Compared with other D flip-flop, the D-flip-flop can effectively reduce the number and complexity of the circuit, and can resist S. R signal delay differential interference, with more robust output.
【作者单位】: 杭州师范大学国际服务工程学院;
【基金】:浙江省自然科学基金资助项目(LY15F010011) 国家自然科学基金资助项目(61771179,61471314,61271124)
【分类号】:TN783
【正文快照】: 0引言随着数字集成电路的快速发展,传统CMOS工艺尺寸不断减小,电路的集成度越来越高,同时也出现了一些由功耗和互连线等带来的问题,如热耗散、短沟道效应、量子力学效应等[1-3].共振隧穿二极管(resonant tunneling devices,RTD)作为一种新的量子器件和纳米电子器件,可以突破传

【相似文献】

相关期刊论文 前9条

1 甘仲民;朱学祺;;采用HEMT的微波低噪声放大器[J];军事通信技术;1990年03期

2 ;高电子迁移率晶体管(HEMT)[J];固体电子学研究与进展;1985年04期

3 苏世民;;高电子迁移率晶体管(HEMT)[J];半导体情报;1986年04期

4 金;;一种新颖的器件——高电子迁移率晶体管(HEMT)[J];半导体情报;1981年03期

5 王良臣;半导体量子器件物理讲座 第二讲 高电子迁移率晶体管(HEMT)[J];物理;2001年04期

6 杨学斌,吕善伟,苏东林,王良臣;基于HEMT的单片微波集成放大器设计[J];北京航空航天大学学报;2000年03期

7 袁明文;;毫米波HEMT的现状和分析[J];半导体情报;1993年01期

8 汤乃云;;外加磁场对应变RTD电流负阻“平台”的抑制作用[J];功能材料与器件学报;2009年04期

9 孙再吉;低噪声、功率HEMT器件新进展[J];固体电子学研究与进展;1992年03期

相关会议论文 前1条

1 汤乃云;;垂直磁场下GaAs/AlAs/InGaAs应变RTD电流输运特性研究[A];第一届中国高校通信类院系学术研讨会论文集[C];2007年

相关博士学位论文 前1条

1 耿亮;触发器功耗控制技术与设计研究[D];浙江大学;2017年

相关硕士学位论文 前1条

1 谷宝路;HEMT器件的模拟研究[D];电子科技大学;2015年



本文编号:1463325

资料下载
论文发表

本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/1463325.html


Copyright(c)文论论文网All Rights Reserved | 网站地图 |

版权申明:资料由用户9d899***提供,本站仅收录摘要或目录,作者需要删除请E-mail邮箱bigeng88@qq.com