当前位置:主页 > 科技论文 > 电子信息论文 >

PSP-SOI模型在RF SOI技术中的应用

发布时间:2018-03-03 04:37

  本文选题:PSP-SOI 切入点:部分耗尽 出处:《集成电路应用》2016年12期  论文类型:期刊论文


【摘要】:SOI工艺因其独特的器件特性而被物联网时代所追捧。相对精准的器件模型显得愈加重要。这是在SOI器件特性和模型理论的基础上,采用PSP-SOI(PD)模型提取了一套完整的射频模型,并对模型进行了直流、交流、高频小信号以及大信号非线性等方面的一系列的验证,基本满足各项指标要求。证明了该模型在RF SOI领域的有效性。
[Abstract]:The SOI process is popular in the Internet of things era because of its unique device characteristics. Relatively accurate device models are becoming more and more important. Based on the characteristics and model theory of SOI devices, a complete RF model is extracted by using the PSP-SOI PDD) model. A series of validations on DC, AC, high frequency small signal and large signal nonlinearity are carried out, which basically meet the requirements of various indexes. The validity of the model in RF SOI field is proved.
【作者单位】: 上海华虹宏力半导体制造有限公司;
【分类号】:TN305

【相似文献】

相关期刊论文 前10条

1 彭力;洪根深;;部分耗尽SOIMOSFET中的浮体效应[J];微电子学;2005年06期

2 赵洪辰,海潮和,韩郑生,钱鹤;PDSOI nMOSFETs中浮体效应对辐照性能的影响(英文)[J];半导体学报;2005年02期

3 奚雪梅,王阳元;薄膜SOIMOSFET浮体效应的抑制优化研究[J];半导体学报;1996年06期

4 李宁;刘存生;孙丽玲;薛智民;;亚微米PD CMOS/SOI工艺及H栅单边体引出研究[J];微电子学;2010年03期

5 卜伟海,黄如,徐文华,张兴;SOI器件中瞬态浮体效应的模拟与分析[J];半导体学报;2001年09期

6 洪根深;顾爱军;;0.5μm部分耗尽SOI MOSFET中的寄生双极效应[J];固体电子学研究与进展;2012年02期

7 陈昕;;SOI技术的发展思路[J];电子器件;2010年02期

8 奚雪梅,,王阳元;全耗尽SOI nMOSFET的浮体效应物理模型[J];半导体学报;1996年05期

9 王阳元,奚雪梅,张兴;SOI MOSFET浮体效应与抑制的研究[J];北京大学学报(自然科学版);1998年Z1期

10 刘运龙,刘新宇,韩郑生,海潮和,钱鹤;采用非对称结构和注Ge的部分耗尽SOI nMOSFET的浮体效应(英文)[J];半导体学报;2002年11期

相关硕士学位论文 前1条

1 赵琳娜;部分耗尽SOI CMOS器件研究及SRAM设计[D];江南大学;2007年



本文编号:1559599

资料下载
论文发表

本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/1559599.html


Copyright(c)文论论文网All Rights Reserved | 网站地图 |

版权申明:资料由用户1d933***提供,本站仅收录摘要或目录,作者需要删除请E-mail邮箱bigeng88@qq.com