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电子系统故障预测方法综述

发布时间:2018-03-07 09:50

  本文选题:电子系统 切入点:故障预测 出处:《天津城建大学学报》2016年04期  论文类型:期刊论文


【摘要】:利用电子系统的可测性分析方法,从电子系统的故障模式与机理着手,构建了基于测试性的电子系统故障预测方法的框架.综述了国内外故障预测方法的研究现状并进行分类与总结,从基于模型和基于数据驱动2个方面论述了电子系统故障预测方法.最后分析了电子系统故障预测技术存在的问题和难点,展望了该领域未来的发展趋势.
[Abstract]:Based on the testability analysis method of electronic system, the failure mode and mechanism of electronic system are discussed. In this paper, the framework of testability based fault prediction method for electronic system is constructed, and the research status of fault prediction methods both at home and abroad is summarized, and the methods are classified and summarized. This paper discusses the methods of fault prediction in electronic system from two aspects: model-based and data-driven. Finally, the problems and difficulties in the technology of electronic system fault prediction are analyzed, and the future development trend in this field is prospected.
【作者单位】: 天津城建大学计算中心;天津工业大学电子与信息工程学院;
【基金】:天津城建大学教育教学改革研究项目(JG-1414) 天津市教委科研计划项目(20140718,20140805)
【分类号】:TN06

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