常用逻辑门芯片测试装置研究与设计

发布时间：2018-04-21 02:01

  本文选题：数字电路 + 逻辑门　； 参考：《实验技术与管理》2017年01期

【摘要】：结合数字电路相关课程的改革,针对数字电路中常用的74/54系列逻辑门芯片,研究并设计了一种基于单片机最小系统的常用逻辑门芯片测试装置。该装置为电子技术相关理论和实践教学提供了快速、直观、稳定的测试方式,提高了实验室芯片检测的效率与准确率,同时也提高了理论与实验课程的教学效果。
[Abstract]:Combined with the reform of digital circuit related courses, a test device of common logic gate chip based on the minimum system of single chip microcomputer is studied and designed for 74 / 54 series of logic gate chips commonly used in digital circuits. The device provides a fast, intuitive and stable testing method for the related theory and practice teaching of electronic technology, and improves the efficiency and accuracy of the chip detection in the laboratory, as well as the teaching effect of the theoretical and experimental courses.
【作者单位】： 河海大学物联网工程学院;
【基金】：江苏高校品牌专业建设工程一期项目(PPZY2015B141) 河海大学高等教育科学研究2015年度立项课题“翻转课堂模式下的电类课程实践教学模式研究与实践”(20151212)
【分类号】：TN407;G642.0

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本文编号：1780417