缺陷无意识的CMOL单元容错映射

发布时间：2018-05-07 13:20

  本文选题：纳米混合电路 + 缺陷无意识　； 参考：《计算机辅助设计与图形学学报》2017年11期

【摘要】：针对CMOS/纳米混合电路(CMOL)中器件高缺陷率的问题,提出一种基于无缺陷单元区域提取的缺陷无意识容错映射方法.首先采用最小逻辑单元和纳米二极管协同检测加速提取出CMOL阵列中无缺陷单元所在区域;然后采用进化算法进行无缺陷区域的CMOL单元映射,通过设计选择策略、适值函数以及精英策略模拟生物进化的过程对解进行全局搜索改进解的质量.实验结果表明,该方法在求解速度和线长上有较大的提升.
[Abstract]:In order to solve the problem of high defect rate in CMOS/ nano-hybrid circuits, a fault unconscious fault tolerant mapping method based on the region extraction of defect free cells is proposed. In this paper, the minimum logic unit and nanodiode cooperative detection are used to accelerate the extraction of the defect free area in CMOL array, and then the evolutionary algorithm is used to map the CMOL element of the defect free region, and the selection strategy is designed. The fitness function and elitist strategy are used to simulate the process of biological evolution and the quality of solution is improved by global search. The experimental results show that this method can improve the solution speed and line length greatly.
【作者单位】： 宁波大学信息科学与工程学院;
【基金】：国家自然科学基金(61571248)
【分类号】：TN407

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本文编号：1857080