反向系间窜越和三重态激子湮灭共存体系的有机发光磁效应

发布时间：2018-05-23 17:21

  本文选题：有机发光磁效应 + 反向系间窜越　； 参考：《中国科学:技术科学》2016年02期

【摘要】：利用具有反向系间窜越(RISC)特性的荧光材料4-(Dicyanomethylene)-2-tert-butyl-6-(1,1,7,7-tetramethyljulolidin-4-yl-vinyl)-4H-pyran(DCJTB)制备了掺杂型有机发光器件,并在20~300 K温度范围内测量了器件的磁致发光曲线(即magneto-electroluminescence,MEL).实验发现,这些MEL曲线表现出奇特的线型:先在低场部分(10 m T)小幅度地快速下降,再随着磁场的增加大幅度地缓慢下降,最终低场和高场都表现为负的MEL,这与具有系间窜越的激子型器件的MEL明显不同.另外,MEL曲线在低场和高场的下降幅度都受注入电流和工作温度的调控.通过分析三重态激子参与的自旋相关过程,认为这些负的MEL是由RISC与三重态激子湮灭(TTA)过程共同引起的,并且三重态激子的寿命是影响RISC过程的主要因素.
[Abstract]:The doped organic light - emitting devices were prepared by using fluorescent material 4 - ( Dicyanomethylene ) -2 - tert - butyl - 6 - ( 1,1,7,7 - trimethyljulolidin - 4 - yl - vinyl ) -4H - butyl ( DCJTB ) with reverse intersystem cross - channel ( RISC ) characteristics , and the magneto - induced luminescence curves of the devices were measured in the range of 20 - 300 K ( i.e . , magneto - luminescence , MEL ) . It is found that these MEL curves show strange linetypes : firstly , the low - field fraction ( 10 m T ) decreases rapidly , then decreases slowly with the increase of the magnetic field , the final low - field and the high - field show negative MEL , which is different from MEL of the exciton - type device with inter - system blowby . In addition , the MEL curve is caused by the process of the RISC and triplet exciton annihilation , and the lifetime of triplet excitons is the main factor affecting the RISC process .
【作者单位】： 西南大学物理科学与技术学院;
【基金】：重庆市科委自然科学基金(编号:CSTC,2010BA6002) 国家自然科学基金(批准号:11374242,11404266)资助项目
【分类号】：TN383.1

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本文编号：1925653