基于相变单元测试的高速可编程脉冲电流源

发布时间：2018-06-07 18:15

  本文选题：相变单元 + Set操作　； 参考：《固体电子学研究与进展》2017年01期

【摘要】：基于相变单元电压操作的局限性,提出一种电流编程操作的方法。针对纳秒级快速相变的需求,设计了一款高速可编程的脉冲电流源,采用0.35μm标准CMOS工艺。结果显示:在10MHz编程速度的条件下,驱动脉冲电流能够良好地跟随控制信号的脉冲波形;当编程信号频率从500kHz到10 MHz变化时,输出电流变化为4.5%;当编程电阻从200Ω到10kΩ变化时,输出电流精度误差不到3%,芯片面积为0.84mm2。在高速可编程脉冲电流源的测试平台上,对相变单元进行电流编程操作,结果显示,相变电阻能够可靠地进行晶态-非晶态的高速可逆相变。
[Abstract]:Based on the limitation of phase change unit (PCU) voltage operation, a current programming operation method is proposed. According to the requirement of nanosecond fast phase transition, a high speed programmable pulse current source is designed, which adopts 0.35 渭 m standard CMOS technology. The results show that under the condition of 10MHz programming speed, the driving pulse current can follow the pulse waveform of the control signal well, the output current changes to 4.5 when the programming signal frequency changes from 500kHz to 10MHz, and when the programmed resistance changes from 200 惟 to 10k 惟, The output current accuracy error is less than 3. The chip area is 0. 84 mm. 2 mm. On the test platform of high speed programmable pulse current source, the phase change unit is operated by current programming. The results show that the phase change resistance can reliably carry out the high speed reversible phase transition between crystalline state and amorphous state.
【作者单位】： 中国科学院上海微系统与信息技术研究所信息功能材料国家重点实验室;
【基金】：中国科学院战略性先导科技专项资助项目(XDA09020402) 国家集成电路重大专项资助项目(2009ZX02023-003)
【分类号】：TN432;TP333

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本文编号：1992240