基于键合线压降的IGBT模块内部缺陷监测研究

发布时间：2018-06-12 07:32

  本文选题：IGBT模块 + 可靠性　； 参考：《电源学报》2016年06期

【摘要】：为了准确地评估出IGBT模块的健康水平,及时发现并更换存在缺陷的IGBT模块,提高功率变流器的可靠性,提出了一种基于键合线压降的IGBT模块内部缺陷诊断方法。通过监测IGBT模块内部单个芯片等效键合线压降的变化,辨识出IGBT模块内键合线的老化状态,进而判断出IGBT模块的健康水平。实验结果表明,基于键合线压降的IGBT模块内部缺陷诊断方法能准确地辨识出模块内键合线的老化过程,与采用监测门极信号辨识模块老化状态的方法相比,所提方法不仅能辨识出单个芯片全部键合线脱落的情况,而且能辨识出部分键合线老化的情况,在辨识精度上有了很大的提高。该方法为确定合适的时机对变流器进行维护、降低系统的维护成本提供了理论依据。
[Abstract]:In order to accurately evaluate the health level of IGBT module , it has been found and replaced IGBT module with defect in time , the reliability of power converter is improved , and a method for diagnosing internal defect of IGBT module based on bond wire voltage drop is put forward .
【作者单位】： 重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室;
【基金】：国家自然科学基金重点资助项目(51137006);国家自然科学基金资助项目(51577020)~~
【分类号】：TN322.8

【相似文献】

相关期刊论文 前7条

1 许向前;毛伟;朱文举;;键合线互连电路的优化设计[J];半导体技术;2012年08期

2 胡建栋,施浩,翁渝民,邱绍雄,宗祥福,谢荣;MBE GaAs缺陷络合线系的本质[J];红外研究(A辑);1988年Z1期

3 杨玲玲;孙玲;孙海燕;;IC封装中键合线传输结构的仿真分析[J];电子与封装;2014年09期

4 沈刚;周雒维;杜雄;杨旭;徐铭伟;;基于小波奇异熵理论的IGBT模块键合线脱落故障特征分析[J];电工技术学报;2013年06期

5 吴建得;罗宏伟;;铜键合线的发展与面临的挑战[J];电子产品可靠性与环境试验;2008年06期

6 贾世旺;黄笑梅;张中海;;EHF频段键合线分析[J];无线电工程;2010年06期

7 ;[J];;年期

相关硕士学位论文 前3条

1 禹鑫;IGBT功率模块的失效研究与键合线状态监测[D];天津理工大学;2015年

2 赵杰;镀钯键合线在封装应用中的研究[D];上海交通大学;2013年

3 沈刚;基于近似熵分析和小波变换的IGBT模块键合线故障特征分析[D];重庆大学;2012年

，

本文编号：2008890