飞秒激光烧蚀硅晶等离子体光斑集成小波处理
[Abstract]:Aiming at the noise in plasma spot image and the noise of spot luminance signal produced by femtosecond laser ablation of silicon wafer, the multi-scale wavelet threshold method is used to remove noise. Firstly, the plasma spot in the ablation process is recorded continuously by CCD camera and converted into a sequence image. Secondly, the multi-scale wavelet decomposition is used to extract the wavelet coefficients of the plasma speckle target image to remove the noise interference in the image, and then the image reconstruction is realized by inverse wavelet transform. Thirdly, the continuous luminance variation curve of the filtered spot image is obtained by extracting the luminance feature of the filtered image. Finally, wavelet decomposition, coefficient extraction and signal reconstruction are carried out again for the luminance curve of spot sequence, so that the average signal-to-noise ratio of spot brightness in different ablation regions is increased by 19.74, and a smooth curve of luminance characteristic change is obtained.
【作者单位】: 华北理工大学电气工程学院;卡尔加里大学机械及制造工程系;北京科技大学自动化学院;
【基金】:国家自然科学基金(71601039)
【分类号】:TN249;TP391.41
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本文编号:2340436
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