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基于正弦余弦算法的NoC测试规划研究

发布时间:2019-02-11 07:18
【摘要】:如何实现多约束条件下测试时间优化是目前片上网络(NoC)测试中亟待解决的问题。提出一种基于正弦余弦算法(SCA)的NoC测试规划优化方法。采用专用TAM的并行测试方法,在满足功耗、引脚约束的条件下,建立测试规划模型,对NoC进行测试。通过群体围绕最优解进行正弦、余弦的波动,以及多个随机算子和自适应变量进行寻优,达到最小化测试时间的目的。在ITC’02 test benchmarks测试集上进行对比实验,结果表明相比粒子群优化(PSO)算法,提出的算法能够获得更短的测试时间。
[Abstract]:How to optimize the test time under the condition of multiple constraints is an urgent problem in on-chip network (NoC) testing. A NoC test planning optimization method based on sinusoidal cosine algorithm (SCA) is proposed. Using the parallel test method of special TAM, under the condition of satisfying the power consumption and pin constraint, the test planning model is established, and the NoC is tested. The aim of minimizing the test time is to minimize the test time through the optimization of the group around the optimal solution by sine, cosine fluctuation, as well as by a number of random operators and adaptive variables. Compared with the particle swarm optimization (PSO) (PSO) algorithm, the experimental results on ITC'02 test benchmarks test set show that the proposed algorithm can obtain a shorter test time than the PSO (Particle Swarm Optimization) algorithm.
【作者单位】: 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院;西安电子科技大学机电工程学院;
【基金】:国家自然科学基金(61561012,61662018) 广西自动检测技术与仪器重点实验室(YQ16106) 广西高校科学技术研究项目(KY2015YB110) 广西中青年教师基础能力提升项目(2017KY0210)资助
【分类号】:TN407

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本文编号:2419511

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