红外焦平面读出电路成像重影问题的分析

发布时间：2019-02-26 10:34

【摘要】：随着红外焦平面探测器广泛的应用,在实际成像中会出现一些新的问题。本文针对某款256×256规格的探测器成像出现重影问题,制定了相应的读出电路成像测试分析方案。从读出电路通道、主时钟频率、目标信号强度等方面全面分析该问题与读出电路的关系,并定位了重影问题的原因。
[Abstract]:With the wide application of infrared focal plane detectors, there will be some new problems in practical imaging. In this paper, a corresponding readout circuit imaging test and analysis scheme is proposed to solve the problem of a 256 脳 256 detector imaging. The relationship between the problem and the readout circuit is analyzed from the aspects of readout circuit channel, master clock frequency and target signal intensity, and the cause of the problem is located.
【作者单位】： 华北光电技术研究所;
【分类号】：TN215

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本文编号：2430698