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片上电源网络EMI二维分布的测量方法

发布时间:2019-05-16 23:18
【摘要】:了解电磁干扰(EMI)在片上电源分配网络中的分布,能为研究芯片电磁抗扰性提供重要的信息。提出了一种感应阵列用于测量EMI的分布。利用感应阵列在电源上产生周期性噪声并将其频谱作为反馈信号,将受测电路的片上电源分配网络当作反馈信号的传输路径,电源引脚作为观测接入点。这种分布测量方法不需要额外独立的供电网络为测量电路供电,不会引入额外的芯片引脚,完全由数字标准单元组成,实现简单。在Global Foundry 180 nm工艺下设计完成了感应阵列,并通过晶体管级仿真和电路实验验证了方法的可行性。
[Abstract]:Understanding the distribution of electromagnetic interference (EMI) in on-chip power distribution network can provide important information for the study of electromagnetic immunity of chips. An induction array is proposed to measure the distribution of EMI. The induction array is used to generate periodic noise on the power supply and its spectrum is used as the feedback signal, the on-chip power distribution network of the measured circuit is used as the transmission path of the feedback signal, and the power pin is used as the observation access point. This distributed measurement method does not need additional independent power supply network to supply power to the measurement circuit, and does not introduce additional chip pins. It is completely composed of digital standard units and is simple to implement. The induction array is designed under Global Foundry 180 nm process, and the feasibility of the method is verified by transistor level simulation and circuit experiment.
【作者单位】: 中山大学电子与信息工程学院;
【分类号】:TN40

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本文编号:2478630

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