基于LUT的ATPG算法研究

发布时间：2019-09-07 18:12

【摘要】：随着科学技术尤其是半导体工艺与通信技术的快速发展,FPGA技术日趋成熟,采用FPGA的设计愈加广泛.随着系统设计的复杂化,其FPGA的验证在整个开发周期中占据的比重越来越大.针对以上背景,本文采用系统功能验证中常用的自动测试模式生成(ATPG)算法为基本框架的ATALANTA开源软件,研究基于FPGA的基本查找表(LUT)结构的ATPG验证技术,提出了一种基于LUT的ATPG验证算法和这种算法在ATALANTA软件中的实现方法,实验结果表明了这种方法的可行性.
【作者单位】： 兰州大学信息科学与工程学院;
【基金】：国家自然科学基金项目(61073193,61300230) 自然科学基金(61402121) 中央高校基本科研业务费专项资金(861914)
【分类号】：TN407

【参考文献】

相关期刊论文 前2条

1 杨士元;胡梅;王红;;模拟电路软故障诊断的研究[J];微电子学与计算机;2008年01期

2 曾文斌;组合逻辑电路的测试故障模型[J];计算机学报;1990年07期

相关硕士学位论文 前4条

1 何曦;基于优化ATPG的可测试性设计与实现[D];电子科技大学;2016年

2 范逸鸣;基于LUT的FPGA时序仿真的设计与实现[D];西安电子科技大学;2012年

3 岳园;基于逻辑锥和SAT的带黑盒电路等价性验证方法[D];兰州大学;2007年

4 周宁;集成电路等价性验证系统设计及其实现[D];兰州大学;2007年

【共引文献】

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1 周江Z，

本文编号：2533175