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基于RapidIO 2.1物理层IP核的数字控制电路的研究与设计

发布时间:2019-11-09 17:35
【摘要】:随着嵌入式处理技术的飞速发展,高性能的嵌入式系统互连必将面临着巨大的挑战。RapidIO互连架构是目前世界上第一个且唯一的嵌入式系统互连国际标准(ISO/IEC18372),能够满足嵌入式设备的广泛应用与基本需求。从RapidIO展现的优越性,以及国内外发展现状的差距可以看出,RapidIO互连技术在国内无论在应用还是开发方面都处于起步阶段。因此,尝试开发RapidIO IP核就显得尤为重要。 RapidIO是基于包交换的互连技术,器件之间通过点对点的全双工通信机制,可以解决总线技术带宽带来的瓶颈。串行RapidIO2.1协议主要分为逻辑层、传输层和物理层。通过对物理层的仔细分析研究,将物理层中的数字控制电路分为流量控制层、串行协议层和物理编码子层,详细阐述了每个子层的工作原理和模块设计思路。运用Verilog硬件描述语言对数字控制电路内部的子模块分别进行建模设计,构建其RTL级电路。为了使设计的物理层IP核具有可测性,构建的内建自测试电路很好的满足了这一要求。提出的改进流水线法的8b/10b编解码相比于传统的查找表法,功耗和面积都有很大的改善;针对5GHz PLL锁相环提出的二进制自动频率搜索算法也较大的缩短了锁定时间,仿真结果为22.51xs。这些关键电路结构的提出,都有助于改善系统的性能。 在VCS软件仿真平台下,对串行物理层IP核中的数字控制电路完成了从模块级、环路级和系统级的逐级验证。验证结果表明数字控制电路能够完成错误恢复和流量控制的功能。RapidIO2.1物理层IP核在华力40nm CMOS工艺下流片。在FPGA硬件平台下测试,物理层IP核芯片在5Gbps串行速率下,误码率小于10-13。验证和测试结果显示,物理层IP核的功能和特征参数基本满足RapidIO2.1协议的要求。
【图文】:

数据传输效率,有效带宽,课题研究,内部数据


图1.1三种互连接口的协议数据传输效率Effective Bandwidth12 !:?t-'V-O:.::--:'■- ..?:.,了 .一 . 一: :-;;???,-:----■ ; "V NB ■_^i . ■ 产 ,- jf~ ? tf * ?fc* ■I /、/、'' “ ‘ ” I ( \ - ?? - / - w 'y. ” ? -*-SRIO 4X3.125G'5 ^ / * / ifr-PCi E*pr?ss *4J /??,*< "*"10G Ethernet: UDP/ *■ / ? r iG gthem?t: UOP“ 1""".1 10 100 1000 10000PDU Size {8yt?s)图1.2三种互连接口的有效带宽比较lisi1.4课题研究背景为了满足通信与网络技术发展的需求,嵌入式系统需要不断提高内部数据传

有效带宽,高性能嵌入式系统,数据传输效率,互连技术


从表中可以看出,SRIO相比于以太网和PCI Express具有很大的优势。为了更加明显的体现SRIO的优越性,图1.2和图1.3从协议数据传输效率、有效带宽两个参数来定量比较三种互连技术。总结以上,,可以看出串行RapidIO是最适合高性能嵌入式系统互连的技术。2
【学位授予单位】:湖南大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2015
【分类号】:TN402

【参考文献】

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