基于JTAG的芯片测试系统研究

发布时间：2019-11-17 11:06

【摘要】：电子设计技术的快速发展不仅带动着电子制造行业的不断进步,同时也为电路板测试技术提出了更高的要求。在应对高集成度、高密度的电路板时,传统的电路板测试技术已经无法满足要求。因此边界扫描测试技术作为一种新型的测试技术,凭借其高检测率、高定位率等特点,在电子制造行业得到了广泛的应用。本文在深入研究边界扫描测试技术的基础上,对边界扫描测试向量生成算法作了进一步研究,从完备性和紧凑性两项指标对多种互连测试算法进行性能分析。并结合传统的测试向量生成算法,提出了一种针对复杂网络的互连测试优化算法。通过对复杂线网进行拓扑结构分析,从而按照规则将复杂线网分割成若干子网络,然后对各子网络进行互连测试。该算法克服了传统测试向量生成算法无法应用于复杂网络的缺点;然后提出了一种边界扫描测试系统的设计方案,该方案可以完成对包括FPGA、CPLD等支持IEEE 1149.1标准的芯片进行如完整性测试、互连测试、静态功能测试等常规边界扫描测试。通过实验,证明该方案从故障定位准确性、检测有效性等指标均满足设计要求;最后通过对常见故障模型的研究,提出了一种基于覆盖率的仿真验证方法,该方法通过对片间故障模型的建立、故障发生的模拟以及向量对比和结果分析等过程,实现了对边界扫描测试向量生成算法以及测试工具的性能评估。
【学位授予单位】：西安电子科技大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2015
【分类号】：TN407

【参考文献】