当前位置:主页 > 科技论文 > 电子信息论文 >

基于无模型迭代学习的光刻机工件台轨迹跟踪控制

发布时间:2020-03-25 21:06
【摘要】:光刻机是半导体产业的核心制造设备,是十分复杂的光机电系统。而其中的多自由度高精度工件台是光刻机的核心系统之一,其控制精度直接影响光刻机的曝光效率和曝光质量,因此开展多自由度精密工件台控制方法的研究具有重要的意义和工程价值。针对步进投影式光刻机多自由度精密工件台中存在的两个主要问题:在曝光场之间的快速过渡(Rapid Transition)和接近曝光场时的快速精密定位(Precision Positiooning)难以同时实现的问题;工件台驱动系统在精密定位阶段存在的干扰使得控制鲁棒性难以实现的问题,本文分别从轨迹优化设计、无模型迭代学习控制以及无模型前馈-反馈迭代学习控制展开了深入的研究。首先,本文对步进投影式光刻机的系统结构和工作原理进行了详细阐述,提出了光刻机工件台系统中存在的控制问题和轨迹规划问题,最后,通过实验对工件台系统进行了系统辨识,并且分析了系统的频域特性。其次,根据步进投影式光刻机工件合的运动特性,分析了轨迹规划约束条件。然后,为了提高曝光效率和质量,从能量函数最小的角度出发,提出了一种优化的轨迹规划方法,根据曝光过程中的约束条件,对工件台的运动轨迹进行规划,通过实验验证,该规划轨迹有效的减少了运动误差。然后,基于规划的轨迹,分析了曝光过程中存在的精密跟踪控制问题,在已有数据驱动迭代学习算法的基础上,研究并且设计了无模型的差分迭代学习控制算法,对算法进行了收敛性分析。该方法有效的抑制了系统中存在的重复性扰动,从而提高了工件台的跟踪精度,通过实验验证,该方法相比较于传统的伺服控制方法,大幅度的提高了工件台的运动性能。最后,为了提升无模型差分迭代学习算法的鲁棒性,本文将基于无模型差分迭代学习前馈控制和反馈控制相结合,设计了一种基于无模型差分迭代学习的前馈反馈切换控制,并且通过优化设计的切换控制器移除切换带来的额外误差,最终,实验表明,本方法不仅能够实现曝光场之间的快速过渡而且还能在曝光过程中有效的抑制干扰从而保证定位精度,满足了光刻机工件台系统的性能需求。
【图文】:

光刻机,摩尔定律,创始人,晶体管


1.1研究背景及意义逡逑在_经信息时代,最童要的也是最基础的产品就是半导体集成电路,可以说逡逑导体集成电路就是P⑹贝幕执嗣裆钪兴娲杉母鋈说缒浴⒅清义夏苁只⒌缡踊⒅悄苁只⑵怠⒁崽⒒魅恕⒐ひ抵圃熘懈髦指餮牡缱硬义掀返暮诵木褪前氲继寮傻缏罚挥邪氲继寮傻缏罚⒉稻褪チ酥С藕湾义匣园氲继寮傻缏酚直怀莆执ひ档摹傲甘场薄N⒌缱蛹际跤质前氲继邋义铣傻缏分圃斓幕。饪碳际跤质俏⒌缱蛹际踔凶罟丶⒆詈诵牡募际酰饪体义嫌质枪饪碳际踔凶罟丶淖氨福梢运倒饪袒褪切畔⑹贝哪富牵匾凳卞义系幕病e义隙饪袒枪夂ィ桑晒ひ罩兴玫降母叨染芨丛拥幕鳎浔怀谱魑死嘧罹义稀⒆罡丛印⒅悄芑罡叩闹圃熳氨福饪袒褪遣捎霉庋У脑斫墒⒅谱麇义系难谀0迳系男畔⒖袒酵坑懈泄獠牧系幕族喂鹌U庑┕杵ǔV本跺义洗笤嘉玻埃埃恚淼剑常埃埃恚碇洌ǔ!鹌夏芄话吵保埃案錾甑继迤骷义显诩萁癜氲继宓恼黾庸す讨校庵址椒芄辉诠杵喜擅准侗鸬耐及浮e义希保埃埃埃埃埃埃埃板危危西赍义

本文编号:2600445

资料下载
论文发表

本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/2600445.html


Copyright(c)文论论文网All Rights Reserved | 网站地图 |

版权申明:资料由用户dc65a***提供,本站仅收录摘要或目录,作者需要删除请E-mail邮箱bigeng88@qq.com