GaN纳米线的PECVD制备及其性能研究
【图文】:
图 1-1 GaN 晶体结构示意图:a) 纤锌矿结构,b) 闪锌矿结构Figure 1-1 Crystal structure of GaN, a) wurtzite,b) zinc blende表 1-1 为纤锌矿 GaN 材料的晶体结构和能带结构参数,纤锌矿 GaN 属于六角密堆积结构,P63mc 空间群,其密排面只有(0001),,每个晶胞中有 12 个原子,其中包括 6 个 Ga 原子和 6 个 N 原子,其面内和轴向的晶格常数分别为 a=0.3189nm,c=0.5185nm。闪锌矿结构 GaN 属于立方密排堆积结构,只有在一定的条件下才能存在。迄今为止,大多数科学研究中所使用的 GaN 材料均为纤锌矿结构的 GaN,这种结构更稳定也更具有代表性。因此本文中如果没有特殊说明,则所介绍的 GaN 材料均为纤锌矿结构。表 1-1 GaN 材料的晶体结构和能带结构参数[3]Table 1-1 Basic parameters of crystal structure and band structure of GaN material[3]参数 GaN晶格常数 a/nm 0.3189
图 1-4 VLS 生长机制示意图Figure 1-4 Schematic diagram of VLS growth mechanism气-固(Vapor-Solid,VS)机制也称蒸发-冷凝过程,其驱动力是再结晶或度减小所引起的吉布斯自由能的减小。VS 机制的具体形核和生长过程繁多,不尽相同,从热力学角度分析,大致可以分为以下三种:1) 缺陷诱导形核和生长。位错、孪晶界等缺陷可以降低成核势垒能,诱导一维纳米材料的形核和生1]其中由 Burton,Cabrera 和 Frank[32]等人提出的一种螺位错作为连续源的理论较为经典,被称为 BCF 理论。MatthewJ[33]等人采用 BCF 理论解线的生长和扭折,如图 1-5 所示,在暴露缺陷的晶面上始终存在一个台形核点,生长过程中气体分子选择表面能高的扭折处沉积,以降低其表面导致一维纳米材料的生长。
【学位授予单位】:北京工业大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2019
【分类号】:TN304;TB383.1
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本文编号:2612516
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