以驻极体为栅介质的柔性低压IGZO薄膜晶体管的研究
【图文】:
图1-2-1薄膜晶体管四种常见的结构,从左到右依次是底栅顶接触,底栅底接触,逡逑顶栅顶接触,顶栅底接触[27]逡逑图1-2-1为薄膜晶体管的典型器件结构。根据栅极、有源层以及源、漏电极逡逑不同堆砌顺序,氧化物薄膜晶体管的器件结构可以划分为底/顶栅和底/顶接触逡逑干种不同的组合,一般可分为图示的四种基本结构:底栅顶接触,底栅底接触,逡逑栅顶接触,顶栅底接触。同时根据器件的基本结构,可以引入不同的薄膜层以逡逑到不同器件保护或者制备流程优化的目的,比如在源、漏电极图形化过程中,逡逑常采用湿法刻蚀,然而刻蚀液容易对有源层造成损伤,为了消除这一损伤,常逡逑用的做法是,如若器件采用顶接触结构则在有源层的上方再引入一层刻蚀阻挡层,,逡逑当然这一步骤的引入往往需要增加一道光刻顺序,一定程度上造成工艺成本和复逡逑杂度的增加。逡逑,一。,
南京大学硕士研究生论文对于顶栅器件,底栅器件栅介质的界面形貌会对有源层的沉积生响,所以此类器件往往对于栅介质界面的表面形貌有着较高的要于底栅结构的薄膜晶体管,其通常会具有较为优异的栅介质表在制备不同的器件过程中,需要充分考虑薄膜材料的性质以及对以满足不同器件结构的要求。逡逑晶体管的工作原理逡逑0.8邋—?—I—>—I—?—I—?—I—?—I—-—I—逡逑
【学位授予单位】:南京大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2019
【分类号】:TN321.5
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