先进集成封装中多物理效应的高性能仿真方法研究
【图文】:
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浙江大学硕士学位论文逡逑现阶段半导体产业中集成电路的设计与制造技术变得越来越复杂和精巧,相应的封装逡逑技术发展如文献[4]所述:如图1-1所示,由1970年以插孔(PTH)方式为主的双边引脚逡逑(DIP)演变为表面黏着技术(SMT),,使得性能得到提升;由周边引脚(如QFP)发展逡逑到球栅阵列(如BGA),使得应交增多;由小型化封装(SOP)发展到晶圆及封装(WLP),逡逑使得成本降低;由单芯片模块发展到三维空间的堆栈模块(S-CSP)、多芯片封装(MCP)、逡逑系统封装(SiP),以及系统集成芯片(SOC),使得更进一步的小型化和高性能化。今后逡逑的集成电路的发展会越来越追求高性能,高可靠性,低制造成本的芯片系统。逡逑1.2.2先进集成封装中的多物理效应逡逑温度Ti逦温逡逑1_邋'逦—邋—邋"I不黏合时,逡逑I逦'逦1邋B的拉伸量逡逑A,Lai逦压应力—?逦A,La2’逦—?黏合时,A和B逡逑B
【学位授予单位】:浙江大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2018
【分类号】:TN405
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本文编号:2618112
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