电解电容与光电耦合器的退化参数测量与分析

发布时间：2020-05-09 04:49

【摘要】：战略装备的必要工况之一是长时间战备值班。在组成装备的部件和元器件中,铝电解电容和光电耦合器是电源组件与数据传输组件的关键器件,担负着装备供电与数据隔离传输的重要任务。在长时间值班过程中,铝电解电容和光电耦合器的性能将直接影响到装备的整体性能。因此,获取长期加电情况下的铝电解电容和光电耦合器的参数退化情况对于在装备设计阶段提供设计参考和装备维修阶段提供维修建议都具有重要意义。本文研究电解电容和光电耦合器的退化参数测量与退化状态建模问题。在分析电解电容和光电耦合器的退化机理和工作状态基础上,确定了两种器件的测量方案,由于电解电容的工作状态为电容的充放电过程,其工作状况比较复杂,因此本文使用不同频率的方波对电解电容进行充放电实验,模拟出电解电容的不同工作状态,研究电解电容在不同工作状态下的退化情况;光电耦合器的工作状况比较单一,本文将温度作为加速退化实验的加速应力,研究光电耦合器在持续加电下的退化情况。为测量出电解电容和光电耦合器的退化参数,即电容值和电流传输比,本文基于Lab Windows/CVI搭建自动测量系统。通过一个月的数据采集,得到了电解电容和光电耦合器的特征参数。针对电解电容退化数据,本文采用多项式拟合与离散灰色理论模型的方法进行分析,最终得到了电解电容在不同工作状态下的退化状态模型,并计算出了电解电容持续工作一年的相对退化量;针对光电耦合器的特征参数,通过多项式拟合与回归分析的方法得到了退化参数与温度的关系,并由此建立光电耦合器工作在20℃时的退化状态模型,从而得到了光电耦合器在20℃的环境下持续工作一年时间的相对退化量。
【图文】：

电解电容器芯子结构图

电解电容的等效电路
【学位授予单位】：哈尔滨工业大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2018
【分类号】：TN622

【参考文献】

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本文编号：2655616