GaN基LED电子阻挡层的第一性原理计算和设计
【学位授予单位】:江西科技师范大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2019
【分类号】:TN312.8
【图文】:
第 1 章 绪论 LED 中存在的大的难题,就是其量子效率随着电量子损失的现象,尤其是在高电流密度下,就是所量子 droop 效应的因素有很多,如俄歇复合[10-11],化电场[13-14]和电子泄露[13,15]等。其中电子泄露是主决 LED 器件中的电子泄露的现象,减少量子 droo LED 器件的多量子阱(Multiple quantum wells,与电流阻挡层 p 型 GaN 区之间生长一定厚度的 Alocking layer,简称 EBL)[16],正如图 1.1 所示。挡层与量子阱 InGaN/GaN 中最后一层的量子阱r,简称 LQB)接触形成的 EBL/LQB 界面,其界bandoffset),使得量子阱内的电子难以越过的,区内,使得电子和空穴的辐射复合增加,从而提高internal quantum efficiency,简称 IQE)。通过调研
electricfield),原因是由于两个半导体材料的晶格不匹配导致的。同时,EBL/LQB界面也会有极化电荷的产生,极化电荷的存在使得 AlGaN/GaN 界面发生能带弯曲,同时使得界面处的势垒高度和能带结构也发生显著的变化。如图1.3中所示,Han 等人[27]利用 APSYS 软件模拟出的不含 AlGaN EBL 和含有 AlGaN EBL 的LED 器件的能带结构示意图。AlGaN EBL 的存在,使得 EBL/LQB 界面处的电子势垒高度和空穴势垒高度出现尖峰,同时伴随着很强的极化电场,从而阻挡电子泄露,当然也对空穴的注入有很大影响。另外,这样也会直接导致了在异质结界面处有二维电子气[28](two dimensional electron gas,简称 2DEG)的形成。1.4 本文背景及研究现状近年来,Ⅲ族氮化物半导体材料被广泛的应用在 LED 光电器件中。并且,GaN 基 LED 的发展也已经取得了巨大的进步。如已经成功的制备出高光效的 Si衬底蓝光 LED
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本文编号:2721535
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