集成电路设计与测试共享云平台的研究与开发

发布时间：2020-06-30 21:17

【摘要】：传统的集成电路的设计与测试受EDA(Electronics Design Automation,电子设计自动化)服务器及测试设备地理位置和运算能力的限制,而基于云计算实现的远程设计和测试充分发挥了云服务器动态易扩展的特点,不仅能节省小型设计所使用的计算资源,而且进行大型设计时也能够提供足够强大的计算资源来支持集成电路的动态仿真。除此之外,基于云计算研发的集成电路开发相关的共享平台还能够为各种应用程序提供开发和运行环境,实现集成电路设计测试及相关的辅助功能。本文在研究云计算、集成电路设计和测试的基础上,深入分析了集成电路发展的瓶颈,研究了云计算的特点及能够提供的服务,提出一种层次化的云计算共享平台架构。其次本文从应用程序设计开发的角度,分别研究了应用程序接口、集成电路开发及测试方法,提出了基于云平台的电路设计、验证、芯片测试的方法,开发并在云平台上部署了相应的示范性应用程序及工具组。与传统的方式相比,基于云平台实现的集成电路设计及测试拥有更强大的计算能力和更高的灵活性,不仅能够方便用户在计算能力较弱的个人电脑上从事设计及测试任务,而且能够随着任务复杂度的提升自动地扩展计算能力。同时它提供了集成电路开发的新模式,随着基于云计算的芯片远程设计和测试的发展壮大,这种新兴的模式将会有效降低芯片开发和测试的成本,尤其是中小型企业和高校小批量芯片的测试成本。此外,本文改进了图像处理类芯片所需的应用工具算法。提出的专用测试矢量生成方法计算准确,与传统方法相比,速度提升明显。
【学位授予单位】：天津大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2018
【分类号】：TN40
【图文】：

9图 2-1 共享云平台应用程序接口如图2-1所示为共享云平台的应用程序接口示意图，从功能上主要分为两类。第一类为云平台的功能接口，使用户能够直接使用云平台的应用 APP 功能。第二类为公开应用程序编程接口（API）或函数，使外部的软件程序可以增加云平台的功能或使用云平台系统的资源，而不需要更改云平台软件系统的源代码。该类接口一般提供给开发者用户以及硬件设备厂商等。2.2.2 集成电路设计开发工具组集成电路设计开发的重点之一为数字 IC 的设计。随着数字 IC 产业的发展，芯片上已经需要集成数以亿计的晶体管，经典的基于电路原理图的设计方法早已不能满足规模越发庞大的数字 IC 设计需求，先进的数字电路设计开发普遍采用基于硬件描述语言（Hardware Description Language

第 2 章 IC 设计与测试共享云平台架构须保证正确外，测试激励的产生至关重要。激励由测试时序和测试矢量合成，测试时序决定了施加给芯片的信号周期，测试矢量定义了每个信号周期的激励波形，两者的合成信号经过一定的处理得到 ATE 的测试激励[28]。由于不同 ATE 要求的测试矢量语法格式要求不同，且测试信号种类繁多，结构复杂，因此由各种格式的原始测试矢量转化为适用于 ATE 的测试矢量也是一项耗时耗力的工作。

【参考文献】

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本文编号：2735829