IC封测设备故障诊断、维护及规避技术研究

发布时间：2017-03-29 21:14

  本文关键词：IC封测设备故障诊断、维护及规避技术研究，，由笔耕文化传播整理发布。

【摘要】：IC封测设备故障解决系统的研究与设计在IC封测领域有深刻的研究意义,同时也是提高IC封测设备性能的关键技术。在综合分析归纳了在故障处理方面的研究现状和存在问题后,本文以减少IC封测设备故障停机时间为目的,将故障诊断、故障维护和故障规避的研究融合成一个体系,分别从这三个角度去研究IC封测设备减少故障停机时间的办法。本文首先针对IC封测设备的研究和生产现状,采用基于故障树分析法的故障诊断方法解决了封测设备故障快速诊断的问题,然后利用基于案例的推理方式解决了故障维护方案快速推理的问题,缩短了故障维护等待时间,最后通过记录工程师设计过程知识的方法解决了故障规避的问题,从根本上减少故障的发生。本文以降低IC封测设备故障停机时间为目标,研究了故障诊断、故障及时维护和故障规避的方法,并实际搭建了相关系统。本文主要研究内容包括：(1)基于故障树分析法的IC封测设备故障诊断研究：探讨了故障树建立的方法,并以国内某公司的IC封测设备为例,分析了其主要模块的故障原因,并实际建立了IC封测设备关键模块的故障树。同时,提出了基于规则的故障树合成法,简化了故障树的合成。对IC封测设备故障树进行定性,通过求解其故障树顶事件的最小割集,缩小了故障检测目标的范围。然后,通过对故障树进行定量分析,求解出各最小割集的重要程度并依此安排检测顺序,提高了检测目标选择的精准度。通过基于产生式规则的推理方法,实现故障树顶事件最小割集的自动推理。(2)基于案例推理的IC封测设备故障维护建议研究：提出将基于案例推理的方法应用于故障维护建议方法,通过匹配相似案例,修正并重用其中的维护方案,简化了故障维护方案的设计过程,缩短故障维护方案设计的时间,实现故障的及时维护。提出了维护方案的主动推广和被动推广的概念,利用基于案例的推理系统实现故障维护方案的被动推广,并提出了将设备故障维护方案主动推广的方法。基于案例匹配方法,提出了在案例相似度比较过程中建立机型相似关系的方法,实现了维护方案的在相似机型中的主动和被动推广(3)基于设计理性的IC封测设备设计故障规避研究：针对设计过程中引入的故障问题,提出了基于设计理性的故障诱因提示方法。对IC封测设备设计修改中引入的故障诱因分析并分类,分别采用在同步记录和异步收集两种方法实现对设计过程知识的获取,并在三维设计软件中实现了设计过程知识的表征。
【关键词】：IC封测设备 故障诊断 故障维护 故障反馈
【学位授予单位】：浙江大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2016
【分类号】：TN405
【目录】：

• 致谢4-5
• 摘要5-7
• ABSTRACT7-12
• 第1章 绪论12-21
• 1.1 论文研究背景12-13
• 1.2 研究意义13-15
• 1.3 国内外研究现状15-19
• 1.3.1 国内外IC封测设备发展现状15-16
• 1.3.2 故障诊断方法的国内外研究现状16-17
• 1.3.3 IC封测设备故障处理技术研究现状17-18
• 1.3.4 IC封测设备故障处理方法研究的现存问题18-19
• 1.4 研究内容及方案19-21
• 1.4.1 研究内容19-20
• 1.4.2 研究方案架构20-21
• 第2章 基于故障树分析法的IC封测设备故障诊断21-44
• 2.1 引言21-22
• 2.2 IC封测设备故障诊断基础介绍22-25
• 2.2.1 重力式IC封测设备介绍22-24
• 2.2.2 故障树分析法符号定义与分析流程24-25
• 2.3 IC封测设备故障树建立25-35
• 2.3.1 IC封测设备常见故障模式分析26-27
• 2.3.2 演绎法建立IC封测设备故障树27-31
• 2.3.3 基于规则的故障树合成法31-35
• 2.4 基于故障树定性定量分析的IC封测设备故障诊断35-43
• 2.4.1 基于故障树定性分析的IC封测设备故障最小割集求解35-37
• 2.4.2 基于产生式规则的故障树最小割集自动推理37-40
• 2.4.3 基于故障树定量分析的IC封测设备最小割集重要度求解40-42
• 2.4.4 基于故障树定性定量分析结果的故障原因诊断42-43
• 2.5 本章小结43-44
• 第3章 基于案例推理的IC封测设备的故障维护建议44-56
• 3.1 引言44
• 3.2 传统的IC封测设备故障维护方法44-46
• 3.3 基于案例推理的IC封测设备故障维护方案建议46-52
• 3.3.1 案例推理应用于IC封测设备故障维护的原理46-48
• 3.3.2 IC封测设备故障维护案例的表示48-49
• 3.3.3 IC封测设备故障维护方案的检索及其修正49-52
• 3.3.4 IC封测设备故障维护案例库更新52
• 3.4 基于案例推理的IC封测设备故障维护推广建议52-55
• 3.5 本章小结55-56
• 第4章 基于设计理性的IC封测设备设计故障诱因规避56-67
• 4.1 引言56
• 4.2 IC封测设备设计过程中常见的故障诱因56-60
• 4.2.1 零件设计层面的故障诱因56-57
• 4.2.2 装配体设计层面的故障诱因57-59
• 4.2.3 优化设计层面的故障诱因59-60
• 4.3 基于设计理性的故障规避方法60-66
• 4.3.1 基于同步记录的DR信息的故障诱因规避61-62
• 4.3.2 基于异步记录的DR信息的故障诱因规避62-66
• 4.4 本章小结66-67
• 第5章 IC封测设备故障处理系统的设计与实现67-78
• 5.1 引言67
• 5.2 系统介绍67-68
• 5.3 IC封测设备故障处理系统关键技术及实现68-75
• 5.3.1 基于规则的IC封测设备故障最小割集求解68-71
• 5.3.2 IC封测设备故障维护案例相似度算法71-72
• 5.3.3 设计过程知识异步挖掘关键技术72-75
• 5.4 系统界面及使用方法介绍75-77
• 5.5 本章小结77-78
• 第6章 结论与展望78-81
• 6.1 结论78-79
• 6.2 未来工作展望79-81
• 参考文献81-85

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